Transistors ; Manufacturing methods ; Reliability(Electronics) ; Packaging ; Ceramic materials ; Beryllium compounds ; Oxides ; Silver ; Brazing ; Environmental tests ; Hermetric seals ; Failure(Mechanics) ; Silicon;
机译:通过将氢化的IgZO作为通道材料施加氢化IGZO,显着改善了150℃的可靠性。
机译:界面工程,黑磷晶体管高电流密度下的性能和可靠性改进
机译:加工过程:应变硅工程引领晶体管技术改进领域
机译:通过激光冲击处理改善高可靠性结构部件的机械性能和使用寿命
机译:客户结果度量标准(修订)的有效性和可靠性:家庭功能的简短度量标准的临床意义。
机译:CF4等离子体处理HfO2栅电介质的非晶铟镓锌氧化物薄膜晶体管的电性能和可靠性提高
机译:通过激光冲击处理改善高可靠性结构部件的机械性能和使用寿命
机译:生产工程通过工艺改进测量可靠性(扩展到'2N2525晶体管家族)