Metal oxide semiconductors; Trapping(Charged particles); Aluminum; Capacitors; Electrons; Equations; Gates(Circuits); Holes(Electron deficiencies); Injection; Interfaces; Internal; Oxides; P type semiconductors; Rates; Silicon; Test and evaluation; Thickness;
机译:金属Al 2 O 3-氮化物-氧化物半导体(MANOS)和半导体-氧化物-氮化物-氧化物半导体(SONOS)电荷陷阱闪存的耐久性和偏置温度不稳定性特征的比较研究
机译:使用分子束沉积的HfO_2 / AI_2O_3作为栅极电介质的ln_(0.53)Ga_(0.47)As(001)金属氧化物半导体器件中的低界面陷阱密度和亚纳米等效氧化物厚度
机译:NO退火对4H-SiC金属氧化物半导体器件氧化物绝缘层和过渡层中电荷陷阱的影响
机译:金属氧化物半导体器件中陷阱电荷弛豫特性的量子力学研究
机译:金属氧化物半导体器件中硅/二氧化硅界面粗糙度和界面捕获电荷的低温测量。
机译:厚度调制半导体到砷中金属跃迁的无掺杂砷异质结构金属氧化物半导体场效应晶体管
机译:通过开关偏置等温退火实验确定的辐照金属氧化物半导体晶体管中潜在界面陷阱累积的特性