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机译:氢钝化对带状硅中多数和少数载流子迁移率的影响
Ribbon; Multicrystalline; Silicon; Rgs; Efg; String ribbon; Mobility; Majority carrier; Minority carrier; Hydrogen; Lifetime; Diffusion length; Solar-cells;
机译:氢钝化对带状硅中多数和少数载流子迁移率的影响
机译:硅器件中主要载流子和少数载流子迁移率的温度依赖性分析模型
机译:硅器件中多数载流子和少数载流子迁移率的温度相关分析模型
机译:通过HWCVD,RF PECVD和VHF PECVD沉积的氢化非晶硅层的晶体硅表面钝化:热退火对少数群体寿命的影响
机译:了解和实现用于带状带状硅的缺陷的氢钝化,以用于高效,可制造的硅太阳能电池。
机译:太赫兹光谱揭示的Cu2ZnSnSe4中的少数和多数电荷载流子迁移率
机译:错误:“硼掺杂和氢钝化对硅纳米晶/ SiC多层光透射载体重组的影响”J。苹果。物理。 114,073101(2013)
机译:重掺硅中多数和少数载流子的特征