机译:通过太赫兹光谱透露Cu 2 ZnSNSE 4中的少数群体和多数费用载流动性
机译:氢钝化对带状硅中多数和少数载流子迁移率的影响
机译:GaAs晶圆中多数电荷载流子的光电C-V分析和少数电荷载流子的有效寿命
机译:掺杂CVD单层石墨烯晶体管的多数和少数群体载流动性行为和装置建模
机译:重掺杂硅中主要和少数族裔载运子的表征。
机译:时间分辨太赫兹光谱法测定纳米到微米级单硫化锡(II)胶膜上的电荷载流子动力学和迁移率。
机译:超快太赫兹光谱探测原子薄胶体InSe纳米片中的光生和载流子迁移。
机译:化合物半导体中的少数和多数载流子传输特性