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超高集積を実現した65nmテクノロジのSoC向けデュアルポートSRAMの開発

机译:超高累积开发65纳米技术的SOC双端口SRAM

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摘要

65nm世代にて小面積のdual-port-SRAMについて提案する。 プライオリティー行デコーダとビット線切替回路を用いて同一行アクセス時の競合を回避する回路方式を提案し、これによりSRAMセルのドライバTr.サイズを小さくして高集積化を図る。更に、メモセルレイアウトの工夫で、従来より約30%面積を縮小できた。
机译:我们提出了一个带有65nm的小区域双端口SRAM。 提出了一种用于避免使用优先行解码器和位线切换电路的相同线路访问时冲突的电路方法,由此驾驶员TR。SRAM单元的大小减小和高度集成。 此外,通过备注细胞布局的装置,可以比以前更低约30%的面积。

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