首页> 外文期刊>電子情報通信学会技術研究報告. 集積回路. Integrated Circuits and Devices >超高集積を実現した65nmテクノロジのSoC向けデュアルポートSRAMの開発
【24h】

超高集積を実現した65nmテクノロジのSoC向けデュアルポートSRAMの開発

机译:开发用于具有65nm技术的SoC的双端口SRAM,实现超高集成度

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

65nm世代にて小面積のdual-port-SRAMについて提案する。 プライオリティー行デコーダとビット線切替回路を用いて同一行アクセス時の競合を回避する回路方式を提案し、これによりSRAMセルのドライバTr.サイズを小さくして高集積化を図る。更に、メモセルレイアウトの工夫で、従来より約30%面積を縮小できた。
机译:我们建议在65nm世代中采用小面积的双端口SRAM。我们提出一种电路方法,该方法通过使用优先级行解码器和位线切换电路来避免在访问同一行时发生冲突,从而减小了SRAM单元的驱动器Tr。尺寸并实现了高集成度。此外,通过设计备忘录单元布局,与过去相比,该区域可以减少约30%。

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号