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東大、高い移動度をもつ二次元正孔伝導を酸化物で初めて実現、高機能酸化物エレクトロニクスの実現へ新たな道を開拓

机译:第一尺度,具有高迁移率的高迁移率是第一次与氧化剂实现,并开发了实现高性能氧化物电子的新方法

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摘要

東京大学の研究グループが、酸化物半導体の表面上に高い移動度を持つ二次元正孔伝導を実現することに初めて成功した。研究グループは汎用性が高いチタン酸ストロンチウム(SrTiO3)基板の表面上に、超高真空下で0?25nm以下の極めて薄い鉄の薄膜を室温で蒸着し、それを大気にさらして酸化鉄を形成した。SrTiO3と酸化鉄はともに絶縁体だが、これらの界面で、これまでに観測されたもっとも高い移動度(10Kにおいて約24,000cm2/Vs)をもつ二次元正孔伝導(p型伝導)が起こることを明らかにした。
机译:东京大学的研究小组成功地实现了在氧化物半导体表面上具有高迁移率的二维空穴传导。 研究组是超高真空表面上的多功能钛酸锶(SRTIO3),在室温下沉积在超高真空下0或25nm或更小的非常薄的铁薄膜,并且它暴露于大气中形成氧化物底部。 SRTIO3和氧化铁都是绝缘体,但在这些界面处,到目前为止,观察到具有最高的迁移率(约24,000cm 2 / Vs)的二维空穴传导(p型导电)。

著录项

  • 来源
    《金属時評》 |2020年第2470期|共2页
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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 冶金工业;
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