机译:用于ADC的线性直方图测试的低成本BIST架构
Analog and mixed-signal testing; ACS test; Built-in self-test (BIST);
机译:用于ADC的线性直方图测试的低成本BIST架构
机译:通过简化的双直方图方法进行ADC非线性低成本测试
机译:通过简化的双直方图方法进行ADC非线性低成本测试
机译:用于ADC线性测试的多直方图ADC BIST系统
机译:用于在Virtex-4 FPGA中测试LUT的BIST架构。
机译:具有多光子平版印刷术的张力结构和纳米尺度特征的双稳态格架的设计和测试
机译:通过简化的双直方图方法进行ADC非线性低成本测试