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Journal of Electronic Testing

中文名称：电子测试杂志

ISSN：0923-8174
出版周期：Bimonthly

发文量：385

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1.Efficient Generation of Stimuli for Functional Verification by Backjumping Across Extended FSMs

机译：通过跨扩展FSM的回跳有效生成刺激以进行功能验证
- 作者：Giuseppe Di Guglielmo;Luigi Di Guglielmo;Franco Fummi;Graziano Pravadelli
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第2期
2.Fault Tolerant Single Error Correction Encoders

机译：容错单纠错编码器
- 作者：Juan Antonio Maestro;Pedro Reviriego;Costas Argyrides;Dhiraj K. Pradhan
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第2期
3.Test Technology Newsletter

机译：测试技术通讯
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第2期
4.Balanced Secure Scan: Partial Scan Approach for Secret Information Protection

机译：平衡的安全扫描：用于秘密信息保护的部分扫描方法
- 作者：Michiko Inoue;Tomokazu Yoneda;Muneo Hasegawa;Hideo Fujiwara
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第2期
5.Construction and Analysis of Augmented Time Compactors

机译：增强时间压缩器的构建与分析
- 作者：Emil Gizdarski
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第2期
6.Analog Sinewave Signal Generators for Mixed-Signal Built-in Test Applications

机译：用于混合信号内置测试应用的模拟正弦波信号发生器
- 作者：Manuel J. Barragán;Diego Vázquez;Adoración Rueda
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
7.A Level-Crossing Approach for the Analysis of RF Modulated Signals Using Only Digital Test Resources

机译：一种仅使用数字测试资源即可进行射频调制信号分析的跨水平方法
- 作者：Nicolas Pous;Florence Azaïs;Laurent Latorre;Jochen Rivoir
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
8.Embedded RF Circuit Diagnostic Technique with Multi-Tone Dither Scheme

机译：具有多音抖动方案的嵌入式射频电路诊断技术
- 作者：Sukeshwar Kannan;Bruce Kim;Ganesh Srinivasan;Friedrich Taenzlar;Richard Antley;Craig Force
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
9.Methodology to Replace Sensitivity BER and Transmit Power Production Tests in Bluetooth Devices with BiSTs

机译：用BiST替代蓝牙设备中的灵敏度BER和发射功率测试的方法
- 作者：Deepa Mannath;David Cohen;Victor Montaño-Martinez;Rick Hudgens;Elida de-Obaldia;Shai Kush;Simon S. Ang
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
10.Test Technology Newsletter

机译：测试技术通讯
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
11.Guest Editorial

机译：客座社论
- 作者：H.-G. Stratigopoulos;K. Chakrabarty
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
12.An Oscillation-Based Technique for Degradation Monitoring of Sensing and Actuation Electrodes Within Microfluidic Systems

机译：基于振荡的微流体系统中传感和驱动电极降解监测技术
- 作者：Qais Al-Gayem;Andrew Richardson;Hongyuan Liu;Nick Burd
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
13.A Parallel Tester Architecture for Accelerometer and Gyroscope MEMS Calibration and Test

机译：加速度计和陀螺仪MEMS校准和测试的并行测试器架构
- 作者：Lyl M. Ciganda Brasca;Paolo Bernardi;Matteo Sonza Reorda;Dimitri Barbieri;Luciano Bonaria;Roberto Losco;Luciano Marcigot;Maurizio Straiotto
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
14.Extending a DWDM Optical Network Test System to 12 Gbps x4 Channels

机译：将DWDM光网络测试系统扩展到12 Gbps x4通道
- 作者：Carl Edward Gray;David C. Keezer
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
15.Assessment of Microfluidic System Testability using Fault Simulation and Test Metrics

机译：使用故障仿真和测试指标评估微流体系统的可测试性
- 作者：Thomas O. Myers;Ian M. Bell
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
16.Pseudorandom Test of Nonlinear Analog and Mixed-Signal Circuits Based on a Volterra Series Model

机译：基于Volterra级数模型的非线性模拟和混合信号电路的伪随机测试。
- 作者：Joonsung Park;Hongjoong Shin;Jacob A. Abraham
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
17.Editorial

机译：社论
- 作者：Vishwani D. Agrawal
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
18.Digital Test Method for Embedded Converters with Unknown-Phase Harmonics

机译：具有未知相谐波的嵌入式转换器的数字测试方法
- 作者：Vincent Kerzérho;Mariane Comte;Florence Azaïs;Philippe Cauvet;Serge Bernard;Michel Renovell
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
19.Alternate Test of LNAs Through Ensemble Learning of On-Chip Digital Envelope Signatures

机译：通过片上数字信封签名的集成学习对LNA进行替代测试
- 作者：Manuel J. Barragán;Rafaella Fiorelli;Gildas Leger;Adoración Rueda;José L. Huertas
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
20.RFID System On-line Testing Based on the Evaluation of the Tags Read-Error-Rate

机译：基于标签读取错误率评估的RFID系统在线测试
- 作者：Gilles Fritz;Vincent Beroulle;Oum-El-Kheir Aktouf;Minh Duc Nguyen;David Hély
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
21.A Behavioral Model of MEMS Convective Accelerometers for the Evaluation of Design and Calibration Strategies at System Level

机译：MEMS对流加速度计的行为模型，用于评估系统级的设计和校准策略
- 作者：Ahmed Amine Rekik;Florence Azaïs;Norbert Dumas;Frédérick Mailly;Pascal Nouet
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
22.Survey of Robustness Enhancement Techniques for Wireless Systems-on-a-Chip and Study of Temperature as Observable for Process Variations

机译：无线片上系统的鲁棒性增强技术的调查以及可用于过程变化的温度研究
- 作者：Marvin Onabajo;Didac Gómez;Eduardo Aldrete-Vidrio;Josep Altet;Diego Mateo;Jose Silva-Martinez
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
23.Tungsten Lamps as an Affordable Light Source for Testing of Photovoltaic Cells

机译：钨灯作为可承受的光伏电池测试光源
- 作者：Jeydmer Aristizabal;Badr Omrane;Clint Landrock;Sasan Vosoogh-Grayli;Yindar Chuo;Jasbir N. Patel;Bozena Kaminska;Carlo Menon
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第3期
24.Editorial

机译：社论
- 作者：Vishwani D. Agrawal
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第4期
25.A Functional Verification Methodology Based on Parameter Domains for Efficient Input Stimuli Generation and Coverage Modeling

机译：基于参数域的功能验证方法，用于有效的输入刺激生成和覆盖模型
- 作者：Carlos Iván Castro Márquez;Edgar Leonardo Romero Tobar;Marius Strum;Wang Jiang Chau
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第4期
26.Adaptive Modeling of Analog/RF Circuits for Efficient Fault Response Evaluation

机译：用于有效故障响应评估的模拟/ RF电路的自适应建模
- 作者：Gurusubrahmaniyan Subrahmaniyan Radhakrishnan;Sule Ozev
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第4期
27.Test Technology Newsletter

机译：测试技术通讯
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第4期
28.A Fault Detection Scheme for the FPGA Implementation of SHA-1 and SHA-512 Round Computations

机译：用于SHA-1和SHA-512循环计算的FPGA实现的故障检测方案
- 作者：Mohsen Bahramali;Jin Jiang;Arash Reyhani-Masoleh
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第4期
29.Exploring the Limitations of Software-based Techniques in SEE Fault Coverage

机译：探索SEE故障覆盖中基于软件的技术的局限性
- 作者：José Rodrigo Azambuja;Samuel Pagliarini;Lucas Rosa;Fernanda Lima Kastensmidt
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第4期
30.A Java Framework to Specify Faultloads for Fault Injection Campaigns

机译：为故障注入活动指定故障负载的Java框架
- 作者：Ruthiano Simioni Munaretti;Taisy Silva Weber;Sérgio Luis Cechin;Bruno Coswig Fiss
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第4期
31.Fault Detection, Diagnosis and Prediction in Electrical Valves Using Self-Organizing Maps

机译：使用自组织映射的电动阀故障检测，诊断和预测
- 作者：Luiz Fernando Gonçalves;Jefferson Luiz Bosa;Tiago Roberto Balen;Marcelo Soares Lubaszewski;Eduardo Luis Schneider;Renato Ventura Henriques
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第4期
32.Functional Verification of DMA Controllers

机译：DMA控制器的功能验证
- 作者：Michelangelo Grosso;Wilson Javier Perez Holguin;Danilo Ravotto;Ernesto Sanchez;Matteo Sonza Reorda;Alberto Tonda;Jaime Velasco Medina
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第4期
33.An Optimized Seed-based Pseudo-random Test Pattern Generator: Theory and Implementation

机译：优化的基于种子的伪随机测试模式生成器：理论与实现
- 作者：Haijun Sun;Yongjia Zeng;Pu Li;Shaochong Lei;Zhibiao Shao
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第4期
34.Histogram-Based Calibration of Capacitor Mismatch and Comparator Offset for 1-Bit/Stage Pipelined ADCs

机译：基于直方图的电容器不匹配和比较器失调校准，用于1位/级流水线ADC
- 作者：Xuan-Lun Huang;Ping-Ying Kang;Yuan-Chi Yu;Jiun-Lang Huang
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第4期
35.Test Data Compression Using Selective Sparse Storage

机译：使用选择性稀疏存储进行测试数据压缩
- 作者：Ling Zhang;Ji-shun Kuang;Zhi-qiang You
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第4期
36.Off-Chip Skew Measurement and Compensation Module (SMCM) Design for Built-Off Test Chip

机译：内置测试芯片的片外偏斜测量和补偿模块（SMCM）设计
- 作者：Kihyuk Han;Joonsung Park;Jae Wook Lee;Jaeyong Chung;Eonjo Byun;Cheol-Jong Woo;Sejang Oh;Jacob A. Abraham
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第4期
37.An Output Response Analyzer Circuit for ADC Built-in Self-Test

机译：用于ADC内置自检的输出响应分析器电路
- 作者：Hsin-Wen Ting
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第4期
38.Editorial

机译：社论
- 作者：Vishwani D. Agrawal
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第5期
39.Functional Test of Mesh-Based NoCs with Deterministic Routing: Integrating the Test of Interconnects and Routers

机译：具有确定性路由的基于网格的NoC的功能测试：集成互连和路由器的测试
- 作者：Marcos Barcellos Hervé;Marcelo Moraes;Pedro Almeida;Marcelo Lubaszewski;Fernanda Lima Kastensmidt;Érika Cota
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第5期
40.A New Design-for-Testability Method Based on Thru-Testability

机译：一种基于可测性的可测性设计新方法
- 作者：Chia Yee Ooi;Hideo Fujiwara
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第5期
41.Fault Diagnosis with Orthogonal Compactors in Scan-Based Designs

机译：基于扫描的设计中的正交压实机故障诊断
- 作者：Brady Benware;Grzegorz Mrugalski;Artur Pogiel;Janusz Rajski;Jędrzej Solecki;Jerzy Tyszer
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第5期
42.A cost-efficient self-configurable BIST technique for testing multiplexer-based FPGA interconnect

机译：一种经济高效的可自配置BIST技术，用于测试基于多路复用器的FPGA互连
- 作者：Zhu Jianfeng;He Hu;Wu Dong;Pan Liyang
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第5期
43.Test Planning in Digital Microfluidic Biochips Using Efficient Eulerization Techniques

机译：使用高效Eulerization技术在数字微流控生物芯片中进行测试计划
- 作者：Debasis Mitra;Sarmishtha Ghoshal;Hafizur Rahaman;Krishnendu Chakrabarty;Bhargab B. Bhattacharya
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第5期
44.Wavelet Neural Network Approach for Testing of Switched-Current Circuits

机译：小波神经网络方法在开关电流电路测试中的应用
- 作者：Guo Jierong;He Yigang;Liu Meirong
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第5期
45.Erratum to: A Cost-Efficient Self-Configurable BIST Technique for Testing Multiplexer-Based FPGA Interconnect

机译：勘误到：一种经济高效的自配置BIST技术，用于测试基于多路复用器的FPGA互连
- 作者：Jianfeng Zhu;Hu He;Dong Wu;Liyang Pan
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第5期
46.Analog Circuit Fault Detection Using Location of Poles

机译：使用极点定位的模拟电路故障检测
- 作者：Ashok Kavithamani;Venugopal Manikandan;Nanjundappan Devarajan
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第5期
47.Reliability Limits of TMR Implemented in a SRAM-based FPGA: Heavy Ion Measures vs. Fault Injection Predictions

机译：在基于SRAM的FPGA中实现的TMR的可靠性极限：重离子测量与故障注入预测
- 作者：Gilles Foucard;Paul Peronnard;Raoul Velazco
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第5期
48.Test Technology Newsletter

机译：测试技术通讯
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第5期
49.Test Technology Newsletter

机译：测试技术通讯
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第6期
50.Band-Pass Filter Design with Diagnosis Facilities Based on Predictive Techniques

机译：基于预测技术的具有诊断功能的带通滤波器设计
- 作者：Joan Font-Rosselló;Eugeni Isern;Miquel Roca;Rodrigo Picos;Miquel Font-Rosselló;Eugenio García-Moreno
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第6期
51.Symmetry Measure for Memory Test and Its Application in BIST Optimization

机译：内存测试的对称度量及其在BIST优化中的应用
- 作者：Gurgen Harutyunyan;Aram Hakhumyan;Samvel Shoukourian;Valery A. Vardanian;Yervant Zorian
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第6期
52.Security Against Hardware Trojan Attacks Using Key-Based Design Obfuscation

机译：使用基于密钥的设计混淆对硬件木马攻击的安全性
- 作者：Rajat Subhra Chakraborty;Swarup Bhunia
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第6期
53.Calibrating On-chip Thermal Sensors in Integrated Circuits: A Design-for-Calibration Approach

机译：校准集成电路中的片上热传感器：一种用于校准的设计方法
- 作者：Chunhua Yao;Kewal K. Saluja;Parmesh Ramanathan
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第6期
54.Editorial

机译：社论
- 作者：Vishwani D. Agrawal
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第6期
55.Computing the Detection Probability for Small Delay Defects of Nanometer ICs

机译：计算纳米集成电路小延迟缺陷的检测概率
- 作者：José L. García-Gervacio;Victor Champac
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第6期
56.Digital Design-for-Diagnosis Method for Error Identification of Pipelined ADCs

机译：用于流水线ADC的错误识别的数字诊断设计方法
- 作者：Jin-Fu Lin;Hsin-Wen Ting
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第6期
57.Diagnosing Multiple Byzantine Open-Segment Defects Using Integer Linear Programming

机译：使用整数线性规划诊断多个拜占庭式开路段缺陷
- 作者：Chen-Yuan Kao;Chien-Hui Liao;Charles H.-P. Wen
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第6期
58.An Efficient Compatibility-Based Test Data Compression and Its Decoder Architecture

机译：基于兼容性的高效测试数据压缩及其解码器架构
- 作者：Min-yong Wan;Yong Ding;Yun Pan;Xiao-lang Yan
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2011年第6期
59.Fault Coverage Analysis of Peak-Detector Based BIST for RF LNAs

机译：射频LNA的基于峰值检测器的BIST故障覆盖率分析
- 作者：R. M. Ayadi;M. Masmoudi
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第1期
- Built;
- in self test (BIST);
- Low noise amplifiers (LNA);
- Fault model;
- Fault coverage;
60.ADC Non-Linearity Low-Cost Test Through a Simplified Double-Histogram Method

机译：通过简化的双直方图方法进行ADC非线性低成本测试
- 作者：M. A. Jalón;E. Peralías
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第1期
- Analogue;
- to;
- Digital Converter (ADC);
- Integral Non Linearity (INL);
- Histogram method;
- Linearity test;
61.Testing Multilayer Flexible Wireless Multisensor Platforms

机译：测试多层灵活的无线多传感器平台
- 作者：Yindar Chuo;Bozena Kaminska
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第1期
- Design for testing;
- Smart sensors;
- Test point access;
- Test requirements;
- Wireless sensors;
62.Applications for Low Frequency Impedance Analysis Systems

机译：低频阻抗分析系统的应用
- 作者：Matthew Giassa;Ajit Khosla;Bonnie Gray;Ash Parameswaran;Kirpal Kohli;Ramani Ramaseshan
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第1期
- Bio impedance analysis;
- Cole;
- Cole plots;
- Electrical impedance tomography;
63.Study of an Electrical Setup for Capacitive MEMS Accelerometers Test and Calibration

机译：电容式MEMS加速度计测试和校准的电气设置研究
- 作者：Norbert Dumas;Florence Azaïs;Frédérick Mailly;Pascal Nouet
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第1期
- MEMS testing;
- Alternate test;
- Capacitive accelerometer;
64.Spectral Prediction for Specification-Based Loopback Test of Embedded Mixed-Signal Circuits

机译：嵌入式混合信号电路基于规范的环回测试的频谱预测
- 作者：Hongjoong Shin;Joonsung Park;Jacob A. Abraham
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第1期
- Mixed;
- signal SOC testing;
- Loopback testing;
- Fault masking;
- Specification;
65.Calibration and Test Time Reduction Techniques for Digitally-Calibrated Designs: an ADC Case Study

机译：用于数字校准设计的校准和测试时间减少技术：ADC案例研究
- 作者：Hsiu-Ming Sherman Chang;Kuan-Yu Lin;Kwang-Ting Tim Cheng
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第1期
- Mixed;
- signal testing;
- ADC testing;
- Digital calibration;
- Digitally;
- assisted testing;
- Least;
- mean;
- squared (LMS) adaptation algorithm;
66.Editorial

机译：社论
- 作者：Vishwani D. Agrawal
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第1期
67.Estimation of RF PA Nonlinearities after Cross-correlating Current and Output Voltage

机译：电流和输出电压互相关后的RF PA非线性估计
- 作者：Pedro Fonseca Mota;José A. Machado da Silva;Ricardo A. Veiga
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第1期
- RF test;
- Cross;
- correlation;
- RF power;
- amplifier;
- Non;
- linearity;
68.General Design for Test Guidelines for RF IC

机译：射频集成电路测试准则的总体设计
- 作者：Qi Fan
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第1期
- DFT guidelines;
- BIST;
- RF IC;
69.Low-Cost Specification Based Testing of RF Amplifier Circuits using Oscillation Principles

机译：使用振荡原理对射频放大器电路进行低成本规范测试
- 作者：Abhilash Goyal;Madhavan Swaminathan;Abhijit Chatterjee
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第1期
- RF Testing;
- Low;
- Cost Testing;
- Oscillation Test;
- RF Amplifier;
70.Test Technology Newsletter

机译：测试技术通讯
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第1期
71.Guest Editorial

机译：客座社论
- 作者：Karim Arabi
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第1期
72.Using Stochastic Differential Equation for Verification of Noise in Analog/RF Circuits

机译：使用随机微分方程验证模拟/ RF电路中的噪声
- 作者：Rajeev Narayanan;Mohamed H. Zaki;Sofiène Tahar
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第1期
- Analog/RF designs;
- Noise modeling;
- Process variation;
- Stochastic differential equation;
- Assertion based verification;
73.Low-Cost 20 Gbps Digital Test Signal Synthesis Using SiGe and InP Logic

机译：使用SiGe和InP逻辑的低成本20 Gbps数字测试信号综合
- 作者：David Keezer;Carl Gray;Dany Minier;Patrice Ducharme
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第1期
- Multi;
- GHz test;
- Serial IO;
- SiGe;
- InP;
- Exclusive;
- OR;
- ATE;
- Jitter;
74.Editorial

机译：社论
- 作者：V. D. Agrawal
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第2期
75.Analysis of Scheduled Latency Insensitive Systems with Periodic Clock Calculus

机译：带有周期时钟演算的计划延迟不敏感系统的分析
- 作者：Bin Xue;Sandeep K. Shukla
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第2期
- Latency insensitive;
- Periodic clock calculus;
- Fractional synchronizer;
- Scheduling;
- Static estimation;
76.Fault Table Computation on GPUs

机译：GPU上的故障表计算
- 作者：Kanupriya Gulati;Sunil P. Khatri
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第2期
- Fault simulation;
- Fault table;
- Hardware acceleration;
77.Qualifying Serial Interface Jitter Rapidly and Cost-effectively

机译：快速，经济高效地验证串行接口抖动
- 作者：Yongquan Fan;Zeljko Zilic
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第2期
- High speed serial interface;
- Jitter;
- Bit error rate;
- Automatic test equipment;
- Qualification;
78.Search State Compatibility Based Incremental Learning Framework and Output Deviation Based X-filling for Diagnostic Test Generation

机译：基于搜索状态兼容性的增量学习框架和基于输出偏差的X填充以进行诊断测试生成
- 作者：Maheshwar Chandrasekar;Nikhil P. Rahagude;Michael S. Hsiao
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第2期
- Silicon diagnosis;
- Diagnostic test generation;
- Search space pruning;
- X;
- filling;
79.Experience with Widening Based Equivalence Checking in Realistic Multimedia Systems

机译：现实多媒体系统中基于扩展的等效检查的经验
- 作者：Sven Verdoolaege;Martin Palkovič;Maurice Bruynooghe;Gerda Janssens;Francky Catthoor
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第2期
- Formal verification;
- Static affine programs;
- Widening;
80.RTL DFT Techniques to Enhance Defect Coverage for Functional Test Sequences

机译：RTL DFT技术可增强功能测试序列的缺陷覆盖率
- 作者：Hongxia Fang;Krishnendu Chakrabarty;Hideo Fujiwara
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第2期
- DFT;
- Output deviations;
- RT;
- level;
- Test;
- point insertion;
- Unmodeled defects;
81.Learning from Constraints for Formal Property Checking

机译：从约束中学习正式属性检查
- 作者：In-Ho Moon;Kevin Harer
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第2期
- Learning from constraints;
- Formal property checking;
- Approximate constraint solving;
- Learning from BDDs;
82.Finding Multiple Equivalence-Preserving Transformations in Combinational Circuits through Incremental-SAT

机译：通过增量SAT查找组合回路中的多个等价保留变换
- 作者：Gianpiero Cabodi;Leandro Dipietro;Marco Murciano;Sergio Nocco
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第2期
83.Defining and Providing Coverage for Assertion-Based Dynamic Verification

机译：定义并提供基于断言的动态验证的覆盖范围
- 作者：Jason G. Tong;Marc Boulé;Zeljko Zilic
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第2期
- Assertions;
- Verification;
- Testing;
- Coverage;
- Test;
- generation;
- Automata;
84.Test Technology Newsletter

机译：测试技术通讯
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第2期
85.Guest Editorial

机译：客座社论
- 作者：Prabhat Mishra
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第2期
86.Test Data Compression Using Multi-dimensional Pattern Run-length Codes

机译：使用多维模式游程码的测试数据压缩
- 作者：Wang-Dauh Tseng;Lung-Jen Lee
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第3期
- ATE;
- Coded;
- based testing;
- SOC;
- Pattern run;
- length;
- Test data compression;
87.False Error Vulnerability Study of On-line Soft Error Detection Mechanisms

机译：在线软错误检测机制的伪错误漏洞研究
- 作者：Kiran Kumar Reddy;Bharadwaj S. Amrutur;Rubin A. Parekhji
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第3期
- On;
- line testing;
- Soft error detection;
- False errors;
88.Editorial

机译：社论
- 作者：Vishwani D. Agrawal
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第3期
89.Using Evolutionary Algorithms for Signal Integrity Assessment of High-Speed Data Buses

机译：使用进化算法评估高速数据总线的信号完整性
- 作者：Maynard Falconer;Garrison Greenwood;Kristina Morgan;KiranKumar Kamisetty;Adam Norman;Konika Ganguly
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第3期
- Evolutionary algorithms;
- Signal integrity;
- Validation;
90.One-to-Many: Context-Oriented Code for Concurrent Error Detection

机译：一对多：用于并发错误检测的上下文相关代码
- 作者：Osnat Keren
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第3期
- Concurrent error detection;
- On;
- line testing;
- Context orientation;
- Arbitrary errors;
91.Fault Coverage on RF VCOs and BIST for Wafer Sort Using Peak-to-Peak Voltage Detectors

机译：使用峰峰值电压检测器进行晶片分选的RF VCO和BIST的故障覆盖率
- 作者：Luca Testa;Hervé Lapuyade;Yann Deval;Jean-Louis Carbonero;Jean-Baptiste Bégueret
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第3期
- BIST;
- Fault coverage;
- Peak;
- to;
- peak voltage detector;
- VCO;
- RF;
92.Fault Modeling and Analysis for Resistive Bridging Defects in a Synchronizer

机译：同步器电阻桥缺陷的故障建模与分析
- 作者：Hyoung-Kook Kim;Wen-Ben Jone;Laung-Terng Wang
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第3期
- Fault modeling;
- Bridging defect;
- Synchronizer;
93.MONSOON: SAT-Based ATPG for Path Delay Faults Using Multiple-Valued Logics

机译：MONSOON：使用多值逻辑的基于SAT的ATPG用于路径延迟故障
- 作者：Stephan Eggersglüß;Görschwin Fey;Andreas Glowatz;Friedrich Hapke;Juergen Schloeffel;Rolf Drechsler
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第3期
- SAT;
- Delay testing;
- ATPG;
- Path delay faults;
- Multiple;
- valued logics;
94.Test Technology Newsletter

机译：测试技术通讯
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第3期
95.Bandwidth Analysis of Functional Interconnects Used as Test Access Mechanism

机译：功能互连作为测试访问机制的带宽分析
- 作者：Ardy van den Berg;Pengwei Ren;Erik Jan Marinissen;Georgi Gaydadjiev;Kees Goossens
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第4期
- System on Chip;
- Test Access Mechanism;
- Functional interconnect;
- Bus;
- Network on Chip;
- Bandwidth;
96.A New Built-in TPG Based on Berlekamp–Massey Algorithm

机译：基于Berlekamp–Massey算法的新型内置TPG
- 作者：Cleonilson Protásio de Souza;Francisco Marcos de Assis;Raimundo Carlos Silvério Freire
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第4期
- BIST;
- Mixed;
- mode TPG;
- LFSR;
- Berlekamp–Massey algorithm;
97.Production Realization of MTPR Test on Low-Cost ATE for OFDM Based Communication Devices

机译：基于OFDM的低成本ATE的MTPR测试的生产实现
- 作者：Ganesh Srinivasan;Abhijit Chatterjee;Sasikumar Cherubal;Pramod Variyam
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第4期
- Asymmetric digital subscriber line (ADSL);
- Multi;
- tone power ratio (MTPR) test;
- Design;
- for;
- Test (DfT);
- Low;
- cost automated test equipment (ATE);
- Dither noise;
- High;
- volume production test;
- Mixed;
- signal test;
98.Test Generation Algorithm for Linear Systems Based on Genetic Algorithm

机译：基于遗传算法的线性系统测试生成算法
- 作者：Ting Long;Houjun Wang;Shulin Tian;Jianguo Huang;Bing Long
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第4期
- Test generation;
- Tolerance;
- Linear system;
- Genetic algorithm (GA);
- Integrated circuit (IC);
99.On the Duality of Probing and Fault Attacks

机译：论探测与故障攻击的二重性
- 作者：Berndt M. Gammel;Stefan Mangard
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第4期
- Probing attacks;
- Fault attacks;
- Side channel attacks;
- Coding theory;
- Secret sharing;
- Secure computation;
100.A BIST Solution for Frequency Domain Characterization of Analog Circuits

机译：用于模拟电路频域表征的BIST解决方案
- 作者：Manuel J. Barragán;Diego Vázquez;Adoración Rueda
- 期刊名称：《Journal of Electronic Testing》 | 2010年第4期
- Analog BIST;
- Signal generator;
- Frequency response characterization;
- On;
- chip spectrum analyzer;
- On;
- chip network analyzer;

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