ADC BIST; ADC linearity test; Built-in Self-test; Histogram testing; Triangle wave;
机译:使用完全数字兼容的BIST策略进行高分辨率ADC线性测试
机译:65nm CMOS斜坡发生器设计及其在流水线ADC的降码静态线性测试技术的BIST实现中的应用
机译:用于ADC的线性直方图测试的低成本BIST架构
机译:用于ADC线性测试的多直方图ADC BIST系统
机译:适用于片上实施和ADC内置自检解决方案的技术,可实现低成本和准确的ADC测试
机译:当在动物中评估更高剂量时抗体-药物偶联物(ADC)在人体内的非线性药代动力学预测受耐受性限制:使用抗CD33 ADC的案例研究
机译:用于片上ADC和DAC测试的BIST方案