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机译:用于片上ADC和DAC测试的BIST方案
Jiun-lang Huang; Chee-kian Ong; Kwang-ting Cheng;
机译:片内斜坡发生器,用于混合信号BIST和ADC自检
机译:使用正弦波拟合对ΣΔADC进行SNDR测试的BIST方案
机译:使用片上DAC消除了对基于VCO的ADC测试仪的依赖。
机译:采用双重片内校准和精度增强技术的1.15μW200 kS / s 10-b单调SAR ADC
机译:ADC / DAC电路的数字BIST测试方案
机译:利用比较器输出触发的二进制搜索时序和与位有关的DAC设置的高速SAR ADC
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