机译:[(1)over-bar11]铜单晶中位错结构的表征
Cu single crystal; dislocation structure; multiple slip; plastic strain amplitude; cyclic deformation; SEM-ECC;
机译:[(1)over-bar11]铜单晶中位错结构的表征
机译:[233]共面双滑取向铜单晶疲劳位错结构的SEM电子通道对比研究
机译:电子通道对比成像表征与单晶和挤压系统有关的位错结构以及铜单晶中的疲劳裂纹
机译:失败分析使用SEM和FIB的电子通道对比度成像的错位识别和表征工作流程
机译:脉冲激光辐照诱发的钼,镍和铋单晶表面缺陷结构的研究:LEED和单正氦离子通道(热应力,滑动,位移)表征。
机译:SEM和电子通道对比度成像中的原位宏观拉伸测试:块状β-Ti21S多晶中的铅笔滑行
机译:使用电子通道对比成像技术(ECCI)研究疲劳裂纹附近的位错结构。