...
机译:后扫描钝化对异堆A-IWO / IGZO薄膜晶体管电性能的影响
Natl Chiao Tung Univ Dept Photon Hsinchu 300 Taiwan;
机译:后扫描钝化对异堆A-IWO / IGZO薄膜晶体管电性能的影响
机译:缓冲层对自对准顶栅IGZO薄膜晶体管的电特性和稳定性的影响
机译:钇掺杂对用作薄膜晶体管沟道层的a-IGZO薄膜的影响
机译:电极材料对使用P(VDF-TrFE)栅极绝缘体和IGZO有源沟道的存储薄膜晶体管的电和弯曲性能的影响
机译:栅极分离对IGZO薄膜晶体管行为的影响
机译:用于a-IGZO薄膜晶体管的高κEr2O3和Er2TiO5栅极电介质的结构和电气特性
机译:钇掺杂在薄膜晶体管中用作沟道层的钇掺杂