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孟婷; 杨建文; 张智翔; 张群; 谢汉萍;
复旦大学材料科学系;
TFT-LCD关键材料及技术国家工程实验室;
上海200432;
台湾交通大学光电工程学系;
中国新竹30010;
a-IWO沟道层; 薄膜晶体管; 氧流量;
机译:后扫描钝化对异堆A-IWO / IGZO薄膜晶体管电性能的影响
机译:可变氧流量的射频磁控溅射制备非晶In-Ga-Zn-O薄膜晶体管的电学特性
机译:衬底温度和氧/氩流量比对射频磁控溅射制备的GZO薄膜的电学和光学性能的影响
机译:MoS 2 inf>薄膜晶体管的电学和光学特性以及应变对其性能的影响
机译:薄膜晶体管应用的多晶硅/电介质/衬底材料系统:材料特性对晶体管性能和可靠性的影响。
机译:固溶氧化锌薄膜的形貌对薄膜晶体管电学特性的影响
机译:溶液处理氧化锌薄膜对薄膜晶体管电学特性的形态影响
机译:薄金属薄膜缺陷对其光学和电学性能影响的研究
机译:用于制造高性能金属氧化物和金属氧氮化物薄膜晶体管的门电介质的处理
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