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机译:原子层沉积生长的Al_2O_3 / HfO_2 / Al_2O_3 / Si栅堆叠的界面热稳定性和能带排列
High-fc gate dielectrics; Annealing temperature; X-ray photoelectron; Spectroscopy; Band alignment;
机译:原子层沉积生长的Al_2O_3 / HfO_2 / Al_2O_3 / Si栅堆叠的界面热稳定性和能带排列
机译:通过原子层沉积沉积的La_2O_3 / Al_2O_3纳米层合物的界面热稳定性和能带取向
机译:HfO_2和Al_2O_3层在300 mm硅晶片上的原子层沉积,用于栅极堆叠技术
机译:GE基材原子层沉积的HFO_2 / AL_2O_3栅极介质纳米堆的表征
机译:原子层沉积(ALD),用于高级栅堆叠应用和生产线的ULSI前端(FEOL)。
机译:等离子体增强原子层沉积法原位形成SiO2中间层的HfO2 / Ge叠层的界面电和能带对准特性
机译:采用GeOxNy钝化层的锗基金属氧化物半导体器件原子层沉积生长的TiO2 / HfO2双层栅堆叠