机译:俄歇电子能谱法表征硅和钼衬底上氮化硅薄膜的特性和深度分布
silicon nitride; substrate profiles; spectroscopy Auger; DEPOSITION;
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机译:俄歇光电子重合谱研究Si(111)上的局部价电子态和超薄氮化硅膜的价带最大值:厚度和界面结构依赖性
机译:俄歇电子能谱分析导电基板上等离子体聚合有机薄膜的深度轮廓
机译:X射线双晶衍射测定和透射电子显微术中蓝宝石,碳化硅和硅基板上单晶外延铝氮化铝薄膜的表征
机译:纳米压痕法测量硅基薄膜低聚倍半硅氧烷聚合物的力学性能
机译:嵌入氮化硅薄膜中的硅量子点与金纳米粒子在发光器件中的耦合增强了电致发光
机译:硅衬底上氮化硅薄膜的生长与表征
机译:硅衬底上氮化镓(GaN)薄膜的大面积外延过量生长(LEO)及其表征