首页> 外文期刊>Физика и техника полупроводников >Подвижность и дрейфовая скорость электроновв селективно-легированных гетероструктурах InAIAs/InGaAs/InAIA_s
【24h】

Подвижность и дрейфовая скорость электроновв селективно-легированных гетероструктурах InAIAs/InGaAs/InAIA_s

机译:选择性掺杂异质结构InAIAs / InGaAs / InAIA_s中电子的迁移率和漂移速度

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Экспериментально получено повышение подвижности и дрейфовой скорости электронов в сильныхэлектрических полях в квантовых ямах селективно-легированных гетероструктур InAIAs/InGaAs/InAIAs путем регулирования состава полупроводников, составляющих интерфейс. В метаморфной структуре In_(0.8).Ga_(0.2)As/In_(0.7)Al_(0.3)As с высокой мольной долей In (0.7-0.8) на интерфейсе подвижность электроновдостигает 12.3 · 10~3 см~2 · В~(-1) · с~(—1)при комнатной температуре. Получено увеличение подвижности электронов в 1.1-1.4 раза при введении тонких (1-3 им) слоев InAs в квантовую яму селективно-легированньIXгетероструктур In_(0.53)Ga_(0.47)As/In_(0.52)Al_(0.48)As. Максимальная дрейфовая скорость достигает 2.5 · 10' см/с вэлектрических полях 2-5 кВ/см. Величина порогового поля F_(th_ для междолинного Г—L переброса электронов (эффект Ганна) в квантовой яме InGaAs в 2.5-3 раза выше, чем в объемном материале. Установлен эффект двух/трехкратного снижения величины порогового поля Fth н квантовой яме InGaAs при увеличении мольнойдоли 1n в барьере InA1As, а также при введении тонких 1пАв-вставок в квантовую яму InGaAs.
机译:通过控制组成界面的半导体组成,通过实验获得了在强掺杂的InAIAs / InGaAs / InAIAs异质结构量子阱中强电场中电子的迁移率和漂移速度的增加。在变质结构In_(0.8).Ga_(0.2)As / In_(0.7)Al_(0.3)As中,在界面处In(0.7-0.8)的摩尔分数高时,电子迁移率达到12.3×10〜3 cm〜2 V〜(- 1)·s〜(–1)在室温下。将薄的(1-3 nm)InAs层引入选择性掺杂的In_(0.53)Ga_(0.47)As / In_(0.52)Al_(0.48)As异质结构的量子阱中后,电子迁移率提高了1.1-1.4倍。在2-5 kV / cm的电场中,最大漂移速度达到2.5 10 cm / s。 InGaAs量子阱中阈值场F_的值(对于谷间G–L电子转移(Gunn效应)的值)是散装材料中的阈值场的2.5–3倍。 InA1As势垒中的1n,以及在InGaAs量子阱中引入薄的1nAv插入。

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号