机译:通过拉曼光谱和霍尔测量探测高能离子辐照的III-V半导体中的载流子补偿
ion irradiation; energy loss; charge compensation; III-V semiconductor; point defects;
机译:通过拉曼光谱和霍尔测量探测高能离子辐照的III-V半导体中的载流子补偿
机译:正电子IT没谱法鉴定高能氧辐照III-V族化合物半导体中的空位类型缺陷
机译:通过门控霍尔效应测量探测四元非晶氧化物半导体中依赖于能量的弛豫时间
机译:用于宽带隙半导体中的载流子浓度的非接触式拉曼微穴位,非破坏性测量
机译:微观研究有机半导体中电荷的命运:扫描开尔文探针测量p型和n型器件中的电荷俘获,传输和电场
机译:时间分辨太赫兹光谱法和Hall Van der Pauw方法的直接比较用于测量体半导体中的载流子电导率和迁移率
机译:直接比较时间分辨的太赫兹光谱和展示船舶导电性和散装半导体流动性的方法
机译:III-V半导体合金中杂质水平的共振拉曼散射和快速时间分辨光谱