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利用霍尔元件测磁场装置测半导体载流子浓度

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利用霍尔元件测磁场装置的基本原理进行反向推导得到测定杂质半导体载流子浓度的理论方法,可对霍尔效应实验仪进行简单改造即可判断出杂质半导体导电类型并测出杂质半导体载流子浓度大小．

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来源
《2011年全国高等学校物理基础课程教育学术研讨会》|2011年|344-346|共3页
会议地点郑州
作者
杜凯; 魏荣慧; 陈庆东; 李立本;
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作者单位

中国物理学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类霍尔器件、光磁电探测器件;
关键词
杂质半导体; 载流子浓度; 霍尔效应;

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