机译:GaN外延层中低角度晶界的位错:HRTEM定量研究和有限元应力状态计算
nitrides; electron microscopy; dislocations; stress;
机译:GaN外延层中低角度晶界的位错:HRTEM定量研究和有限元应力状态计算
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机译:应力耦合有限元和无网格法在中尺度下的晶界迁移模拟。