机译:加热和后退火相结合的热处理对InGaZnO薄膜微观结构及其薄膜晶体管器件性能的影响
amorphous microstructure; IGZO TFT; HR-TEM; SAED;
机译:加热和后退火相结合的热处理对InGaZnO薄膜微观结构及其薄膜晶体管器件性能的影响
机译:电极材料对非晶InGaZnO薄膜晶体管器件性能和不稳定性的影响
机译:XInZnO(X = Ti,Zr,Hf)薄膜的微观结构和电性能及其薄膜晶体管的器件性能-用IV-B族元素代替Ga的效果
机译:衬底温度和退火后处理对溅射沉积ZnO:Al薄膜微结构和电性能的影响
机译:硅化物和器件结构对有源矩阵液晶显示器用多晶硅薄膜晶体管的特性和电路性能的影响。
机译:通过使用富氢Al2O3介电层实现具有极低热收支的高性能a-InGaZnO薄膜晶体管
机译:通过自组装单层处理显着提高非常薄的InGazno薄膜晶体管