...
机译:检测器死区时间对原子探针层析成像中涉及硼和多击中检测事件的定量分析的影响
Atomprobe; Dead-time; Boron; Dopant; Multi-hit; Field evaporation;
机译:检测器死区时间对原子探针层析成像中涉及硼和多击中检测事件的定量分析的影响
机译:原子探针层析成像数据中的纳米尺度溶质原子聚集和偏析的定量二项分布分析
机译:在原子探测断层扫描中的多个事件的检测
机译:采用原子探测断层扫描的TISI_2硅化过程中的硼再分配研究
机译:涉及高电荷离子与分子碰撞的实验中的多次碰撞延迟线阳极检测器。
机译:PNAS Plus:通过原子探针层析成像技术观察铁(II)催化针铁矿重结晶中的铁原子交换前沿
机译:探测器死区时间对原子探针层析成像中涉及硼和多击中探测事件的定量分析的影响
机译:原子探针场离子显微镜对有序pt sub 3 Co的定量组成分析。第4572号报告