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International Test Conference
International Test Conference
召开年:
2019
召开地:
Washington(US)
出版时间:
-
会议文集:
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3426
条结果
1.
Overview of IEEE P1450.6.2 Standard Creating CTL Model For Memory Test and Repair
机译:
IEEE P1450.6.2概述标准创建内存测试和修复CTL模型
作者:
IEEE P1450.6.2 Working Group
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
2.
Capture and Shift Toggle Reduction (CASTR) ATPG to Minimize Peak Power Supply Noise
机译:
捕获和移位切换减少(CASTR)ATPG以最小化峰值电源噪声
作者:
Lin Hsiu-Ting
;
Wen Jen-Yang
;
Li James
;
Chang Ming-Tung
;
Tsai Min-Hsiu
;
Huang Sheng-Chih
;
Tseng Chih-Mou
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
3.
Diagnosis of Logic-to-chain Bridging Faults
机译:
诊断逻辑转向桥接故障
作者:
Wei-Chih Liu
;
Wei-Lin Tsai
;
Hsiu-Ting Lin
;
James Chien-Mo Li
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
4.
An Efficient Secure Scan Design for an SoC Embedding AES Core
机译:
用于SOC嵌入AES核心的高效安全扫描设计
作者:
Song Jaehoon
;
Jung Taejin
;
Lee Junseop
;
Jeong Hyeran
;
Kim Byeongjin
;
Park Sungju
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
5.
A Low-Cost Programmable Memory BIST Design for Multiple Memory Instances
机译:
用于多个内存实例的低成本可编程内存BIST设计
作者:
Chung-Fu Lin
;
Chia-Fu Huang
;
De-Chung Lu
;
Chih-Chiang Hsu
;
Wen-Tsung Chiu
;
Yu-Wei Chen
;
Yeong-Jar Chang
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
6.
Is It Cost-Effective to Achieve Very High Fault Coverage for Testing Homogeneous SoCs with Core-Level Redundancy?
机译:
实现具有核心级冗余的均匀SoC的非常高的故障覆盖率是否具有成本效益?
作者:
Lin Huang
;
Qiang Xu
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
7.
A Generic Framework for Scan Capture Power Reduction in Test Compression Environment
机译:
用于测试压缩环境中的扫描捕获功率降低的通用框架
作者:
Liu Xiao
;
Yuan Feng
;
Xu Qiang
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
8.
Is It Cost-Effective to Achieve Very High Fault Coverage for Testing Homogeneous SoCs with Core-Level Redundancy?
机译:
实现具有核心级冗余的均匀SoC的非常高的故障覆盖率是否具有成本效益?
作者:
Huang Lin
;
Xu Qiang
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
9.
Diagnosis of Logic-to-chain Bridging Faults
机译:
诊断逻辑转向桥接故障
作者:
Liu Wei-Chih
;
Tsai Wei-Lin
;
Lin Hsiu-Ting
;
Li James Chien-Mo
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
10.
SoC Yield Improvement: Redundant Architectures to the Rescue?
机译:
SOC产量改进:救援的冗余架构?
作者:
J. Vial
;
A. Bosio
;
P. Girard
;
C. Landrault
;
S. Pravossoudovitch
;
A. Virazel
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
11.
Wireless Test Structure for Integrated Systems
机译:
集成系统的无线测试结构
作者:
Ziad Noun
;
Philippe Cauvet
;
Marie-Lise Flottes
;
David Andreu
;
Serge Bernard
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
关键词:
System-in-Package Test;
Wireless Wafer Testing;
12.
Analog #x00026; Mixed-Signal are Key for Test Development Engineering Program
机译:
模拟和混合信号是测试开发工程计划的关键
作者:
Schmitz Tamara I.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
13.
An Efficient Secure Scan Design for an SoC Embedding AES Core
机译:
用于SOC嵌入AES核心的高效安全扫描设计
作者:
Jaehoon Song
;
Taejin Jung
;
Junseop Lee
;
Hyeran Jeong
;
Byeongjin Kim
;
Sungju Park
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
14.
Test-Access Solutions for Three-Dimensional SOCs
机译:
三维SoC的测试访问解决方案
作者:
Wu Xiaoxia
;
Chen Yibo
;
Chakrabarty Krishnendu
;
Xie Yuan
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
15.
The Importance of Functional-Like Access for Memory Test
机译:
内存测试的功能式访问的重要性
作者:
Jonathan Phelps
;
Chuck Johnson
;
Corey Goodrich
;
Aman Kokrady
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
16.
Hardware Overhead Reduction for Memory BIST
机译:
内存BIST的硬件开销减少
作者:
Masayuki Arai
;
Kazuhiko Iwasaki
;
Michinobu Nakao
;
Iwao Suzuki
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
17.
VLSI Test Exercise Courses for Students in EE Department
机译:
EE部门学生的VLSI测试练习课程
作者:
Komatsu Satoshi
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
18.
IEEE P1581 drastically simplifies connectivity test for memory devices
机译:
IEEE P1581大大简化了内存设备的连接测试
作者:
Ehrenberg Heiko
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
19.
NoC Reconfiguration for Utilizing the Largest Fault-free Connected Sub-structure
机译:
NOC重新配置,用于利用最大的无故障连接的子结构
作者:
Armin Alaghi
;
Mahshid Sedghi
;
Naghmeh Karimi
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
20.
IEEE 1500 Compatible Secure Test Wrapper For Embedded IP Cores
机译:
IEEE 1500用于嵌入式IP核心的兼容安全测试包装器
作者:
Chiu Geng-Ming
;
Li James Chien-Mo
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
21.
On the generation of test programs for chip multithread computer architectures
机译:
关于芯片多线程计算机架构的测试程序
作者:
D. Ravotto
;
E. Sanchez
;
M. Sonza Reorda
;
G. Squillero
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
22.
Yield Learning: Everybody Gains, But Who Picks up the Tab?
机译:
产量学习:每个人都收益,但拿起标签?
作者:
Burlison Phil
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
23.
Analog Test Technology: Stable and Grounded, or Open Loop and Spurious?
机译:
模拟测试技术:稳定和接地,或开环和虚假?
作者:
Michael Purtell
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
24.
Overview of a High Speed Top Side Socket Solution
机译:
高速顶侧插座解决方案概述
作者:
John Stewart
;
Temitope Animashaun
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
25.
Functional test-bench refinement through automatic constraint extraction
机译:
通过自动约束提取功能的功能性测试
作者:
Li-C. Wang
;
Onur Guzey
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
26.
Platform Independent Test Access Port Architecture
机译:
平台独立测试访问端口架构
作者:
Arie Margulis
;
Dimitry Akselrod
;
Tim Wood
;
Sophocles Metsis
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
27.
FPGA Time Measurement Module: Preliminary Results
机译:
FPGA时间测量模块:初步结果
作者:
Bowhers William J.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
28.
SOC Test Optimization with Compression-Technique Selection
机译:
具有压缩技术选择的SOC测试优化
作者:
Larsson Anders
;
Zhang Xin
;
Larsson Erik
;
Chakrabarty Krishnendu
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
29.
Improving the Accuracy of Test Compaction through Adaptive Test Update
机译:
通过自适应测试更新提高测试压缩的准确性
作者:
Biswas Sounil
;
Blanton R. D.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
30.
Test Quality Improvement with Timing-aware ATPG: Screening small delay defect case study
机译:
用时序感知ATPG测试质量改进:筛选小延迟缺陷案例研究
作者:
Chang Che-Jen Jerry
;
Kobayashi Takeo
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
31.
High Test Quality in Low Pin Count Applications
机译:
低针计数应用中的高测试质量
作者:
DSouza Jayant
;
Mahadevan Subramanian
;
Mukherjee Nilanjan
;
Rhodes Graham
;
Moreau Jocelyn
;
Droniou Thomas
;
Armagnat Paul
;
Sartoretti Damien
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
32.
Yield Learning: Everybody Gains, But Who Picks up the Tab?
机译:
产量学习:每个人都收益,但拿起标签?
作者:
Phil Burlison
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
33.
LOW POWER TEST
机译:
低功率测试
作者:
Swapnil BAHL
;
Rajiv SARKAR
;
Akhil GARG
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
34.
Parametric Testing of Optical Interfaces
机译:
光学接口的参数测试
作者:
Achkir Brice
;
Zivny Pavel
;
Eklow Bill
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
35.
Power-Aware DFT - Do Not Risk It, Use It
机译:
动力感知DFT - 不冒风险,使用它
作者:
Bahram Pouya
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
36.
Diagnosis of Mask-Effect Multiple Timing Faults in Scan Chains
机译:
屏蔽效应扫描链中的多个定时故障的诊断
作者:
Jing YE
;
Fei WANG
;
Yu HU
;
Xiaowei LI
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
37.
Low Power Test
机译:
低功率测试
作者:
Bahl Swapnil
;
Sarkar Rajiv
;
Garg Akhil
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
38.
Will Test Compression Run Out Of Gas?
机译:
测试压缩耗尽气体吗?
作者:
Stephen Pateras
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
39.
Will Test Compression Run Out of Gas?
机译:
测试压缩耗尽气体吗?
作者:
Sandeep Kumar Goel
;
Erik Jan Marinissen
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
40.
Some Burning Issues that Justify Power-Aware DFT
机译:
一些燃烧的问题,证明了动力感知DFT
作者:
Jeff Rearick
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
41.
Will Test Compression Run Out of Gas?
机译:
测试压缩耗尽气体吗?
作者:
Sandeep Bhatia
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
42.
Benchmarking Academic DFT Tools on the OpenSparc Microprocessor
机译:
在OpenSPARC微处理器上基准测试学术DFT工具
作者:
Ilia Polian
;
Christian Miller
;
Piet Engelke
;
Tobias Nopper
;
Alejandro Czutro
;
Bernd Becker
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
43.
SOC Test Optimization with Compression-Technique Selection
机译:
具有压缩技术选择的SOC测试优化
作者:
Anders Larsson
;
Xin Zhang
;
Erik Larsson
;
Krishnendu Chakrabarty
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
44.
Debug War Stories
机译:
调试战争故事
作者:
LeRoy Winemberg
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
45.
Test Quality Improvement with Timing-aware ATPG: Screening small delay defect case study
机译:
用时序感知ATPG测试质量改进:筛选小延迟缺陷案例研究
作者:
Che-Jen Jerry Chang
;
Takeo Kobayashi
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
46.
Improving the Accuracy of Test Compaction through Adaptive Test Update
机译:
通过自适应测试更新提高测试压缩的准确性
作者:
Sounil Biswas
;
R. D. (Shawn) Blanton
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
47.
System JTAG Initiative Group Advancements
机译:
系统JTAG主动组进步
作者:
Bradford G. Van Treuren
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
48.
Platform Independent Test Access Port Architecture
机译:
平台独立测试访问端口架构
作者:
Margulis Arie
;
Akselrod Dimitry
;
Wood Tim
;
Metsis Sophocles
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
49.
Analog Test Technology: Stable and Grounded, or Open Loop and Spurious
机译:
模拟测试技术:稳定和接地,或开环和虚假
作者:
Shalabh Goyal
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
50.
The University DFT Tool Showdown - Introduction
机译:
大学DFT工具摊牌 - 介绍
作者:
Scott Davidson
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
51.
Debug War Stories
机译:
调试战争故事
作者:
Darrell Carder
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
52.
System JTAG Initiative Group Advancements
机译:
系统JTAG主动组进步
作者:
Van Treuren Bradford G.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
53.
Power-Aware DFT - Do we really need it?
机译:
动力感知DFT - 我们真的需要吗?
作者:
Nilanjan Mukherjee
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
关键词:
Power aware;
voltage droop;
IR drop;
shift power;
capture power;
functional mode;
scan-test mode;
54.
Power-Aware DFT - Do we really need it?
机译:
动力感知DFT - 我们真的需要吗?
作者:
Prabhu Krishnamurthy
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
55.
FPGA Time Measurement Module: Preliminary Results
机译:
FPGA时间测量模块:初步结果
作者:
William J. Bowhers
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
56.
Will Test Compression Run Out of Gas?
机译:
测试压缩耗尽气体吗?
作者:
Goel Sandeep Kumar
;
Marinissen Erik Jan
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
57.
Power Distribution Failure Analysis Using Transition-Delay Fault Patterns
机译:
使用过渡延迟故障模式分配故障分析
作者:
Ma Junxia
;
Lee Jeremy
;
Tehranipoor Mohammad
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
58.
Diagnosis of Mask-Effect Multiple Timing Faults in Scan Chains
机译:
屏蔽效应扫描链中的多个定时故障的诊断
作者:
Ye Jing
;
Wang Fei
;
Hu Yu
;
Li Xiaowei
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
59.
High Test Quality in Low Pin Count Applications
机译:
低针计数应用中的高测试质量
作者:
Jayant DSouza
;
Subramanian Mahadevan
;
Nilanjan Mukherjee
;
Graham Rhodes
;
Jocelyn Moreau
;
Thomas Droniou
;
Paul Armagnat
;
Damien Sartoretti
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
60.
Power-Aware DFT - Do we really need it?
机译:
动力感知DFT - 我们真的需要吗?
作者:
Mukherjee Nilanjan
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
关键词:
IR drop;
Power aware;
capture power;
functional mode;
scan-test mode;
shift power;
voltage droop;
61.
Overview of a High Speed Top Side Socket Solution
机译:
高速顶侧插座解决方案概述
作者:
Stewart John
;
Animashaun Temitope
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
62.
Overview of OpenSPARC~(TM)
机译:
OpenSPARC概述〜(TM)
作者:
Ishwar Parulkar
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
63.
Power Distribution Failure Analysis Using Transition-Delay Fault Patterns
机译:
使用过渡延迟故障模式分配故障分析
作者:
Junxia Ma
;
Jeremy Lee
;
Mohammad Tehranipoor
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
64.
Challenges in Scaling Software-Based Self-Testing to Multithreaded Chip Multiprocessors
机译:
将基于软件的自我测试缩放到多线程芯片多处理器的挑战
作者:
Gizopoulos Dimitris
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
65.
Challenges in Scaling Software-Based Self-Testing to Multithreaded Chip Multiprocessors
机译:
将基于软件的自我测试缩放到多线程芯片多处理器的挑战
作者:
Dimitris Gizopoulos
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
66.
An Automatic Post Silicon Clock Tuning System for Improving System Performance based on Tester Measurements
机译:
一种自动硅时钟调谐系统,可根据基于测试仪测量改进系统性能
作者:
Nagaraj Kelageri
;
Kundu Sandip
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
67.
Linearity Test Time Reduction for Analog-to-Digital Converters Using the Kalman Filter with Experimental Parameter Estimation
机译:
使用Kalman滤波器具有实验参数估计的模数转换器的线性测试时间减少
作者:
Le Jin
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
68.
The Economics of Harm Prevention through Design for Testability
机译:
通过设计设计造成伤害的经济性
作者:
Ungar Louis Y.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
69.
A Cost Analysis Framework for Multi-core Systems with Spares
机译:
具有备件的多核系统成本分析框架
作者:
Shamshiri Saeed
;
Lisherness Peter
;
Pan Sung-Jui
;
Cheng Kwang-Ting
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
70.
A Method to Generate a Very Low Distortion, High Frequency Sine Waveform Using an AWG
机译:
一种使用AWG产生非常低的失真的方法,高频正弦波形
作者:
Akinori Maeda
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
71.
A Method to Generate a Very Low Distortion, High Frequency Sine Waveform Using an AWG
机译:
一种使用AWG产生非常低的失真的方法,高频正弦波形
作者:
Maeda Akinori
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
72.
The Advantages of Limiting P1687 to a Restricted Subset
机译:
将P1687限制为受限制子集的优点
作者:
Jason Doege
;
Alfred L. Crouch
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
73.
Augmenting Boundary-Scan Tests for Enhanced Defect Coverage
机译:
增强缺陷覆盖率的增强边界扫描测试
作者:
Norrgard Dayton
;
Parker Kenneth P.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
74.
The Advantages of Limiting P1687 to a Restricted Subset
机译:
将P1687限制为受限制子集的优点
作者:
Doege Jason
;
Crouch Alfred L.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
75.
The Economics of Harm Prevention through Design for Testability
机译:
通过设计设计造成伤害的经济性
作者:
Louis Y. Ungar
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
76.
Linearity Test Time Reduction for Analog-to-Digital Converters Using the Kalman Filter with Experimental Parameter Estimation
机译:
使用Kalman滤波器具有实验参数估计的模数转换器的线性测试时间减少
作者:
Le Jin
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
77.
Scan Based Testing of Dual/Multi Core Processors for Small Delay Defects
机译:
基于扫描基于Dual / Multi核心处理器的测试,用于小延迟缺陷
作者:
Singh Adit D.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
78.
Statistical Yield Modeling for Sub-wavelength Lithography
机译:
子波长光刻的统计产量建模
作者:
Sreedhar Aswin
;
Kundu Sandip
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
79.
Embedded Power Delivery Decoupling in Small Form Factor Test Sockets
机译:
嵌入式电力传递在小型系数测试插座中解耦
作者:
Vikinski Omer
;
Lupo Shaul
;
Sizikov Gregory
;
Chung Chee Yee
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
80.
Low cost testing of multi-GBit device pins with ATE assisted loopback instrument
机译:
具有ATE辅助环回仪器的多Gbit器件引脚的低成本测试
作者:
Fritzsche William A
;
Haque Asim E.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
81.
Boundary-Scan Testing of Power/Ground Pins
机译:
电力/接地引脚的边界扫描测试
作者:
Parker Kenneth P.
;
Jacobson Neil G.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
82.
Observations of Supply-Voltage-Noise Dispersion in Sub-nsec
机译:
亚NSEC中供给噪声分散的观察
作者:
Kan Takeuchi
;
Genichi Tanaka
;
Hiroaki Matsushita
;
Kenichi Yoshizumi
;
Yusaku Katsuki
;
Takao Sato
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
83.
Boundary-Scan Testing of Power/Ground Pins
机译:
电力/接地引脚的边界扫描测试
作者:
Kenneth P. Parker
;
Neil G. Jacobson
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
84.
RTL Error Diagnosis Using a Word-Level SAT-Solver
机译:
使用Word级SAT-Solver诊断RTL错误诊断
作者:
Mirzaeian Saeed
;
Zheng Feijun
;
Cheng K.-T. Tim
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
85.
Failing Frequency Signature Analysis
机译:
频率签名分析失败
作者:
Lee Jaekwang
;
McCluskey Edward J.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
86.
Observations of Supply-Voltage-Noise Dispersion in Sub-nsec
机译:
亚NSEC中供给噪声分散的观察
作者:
Takeuchi Kan
;
Tanaka Genichi
;
Matsushita Hiroaki
;
Yoshizumi Kenichi
;
Katsuki Yusaku
;
Sato Takao
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
87.
The Limits of Compression
机译:
压缩的限制
作者:
T. W. Williams
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
关键词:
Scan compression;
combinational/sequential compression;
compression bounds;
entropy;
and design for compression;
88.
We Need Faster Deeper Scan and More Realistic Tests
机译:
我们需要更快,更深的扫描和更现实的测试
作者:
Jochen Rivoir
;
System Architect
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
89.
We Need Faster #x00026; Deeper Scan and More Realistic Tests
机译:
我们需要更快,更深的扫描和更现实的测试
作者:
Rivoir Jochen
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
90.
The Limits of Compression
机译:
压缩的限制
作者:
Williams T. W.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
关键词:
Scan compression;
combinational / sequential compression;
compression bounds;
design for compression;
entropy;
91.
Finding Power/Ground Defects on Connectors - Case Study
机译:
在连接器上找到电源/地面缺陷 - 案例研究
作者:
Hird Steve
;
Weng Reggie
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
92.
Solder Bead on High Density Interconnect Printed Circuit Board
机译:
高密度互连印刷电路板上的焊料珠子
作者:
Chu Brandon
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
93.
Jitter and Signal Integrity Verification for Synchronous and Asynchronous I/Os at Multiple to 10 GHz/Gbps
机译:
多个到10 GHz / Gbps的同步和异步I / O的抖动和信号完整性验证
作者:
Mike P. Li
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
94.
Jitter and Signal Integrity Verification for Synchronous and Asynchronous I/Os at Multiple to 10 GHz/Gbps
机译:
多个到10 GHz / Gbps的同步和异步I / O的抖动和信号完整性验证
作者:
Li Mike P.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
95.
Embedded Testing in an In-Circuit Test Environment
机译:
在线测试环境中嵌入式测试
作者:
John Malian
;
Bill Eklow
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
96.
Jitters in high performance microprocessors
机译:
高性能微处理器中的乱码
作者:
Mak T.M.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
97.
Embedded Testing in an In-Circuit Test Environment
机译:
在线测试环境中嵌入式测试
作者:
Malian John
;
Eklow Bill
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
98.
Jitters in high performance microprocessors
机译:
高性能微处理器中的乱码
作者:
T.M. Mak
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
关键词:
Understanding amp;
controlling Clock Jitter is key to high performance design;
Know your Jitters;
99.
Analysis of pseudo-interleaving AWG
机译:
伪交错AWG分析
作者:
Okawara H.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
关键词:
function generators;
power combiners;
HDD;
Lorentzian waveforms;
hard disk drives;
high-speed analog selector;
performance analysis;
power combiner;
pseudo-interleaving AWG;
pseudo-interleaving arbitrary waveform generator;
read channel;
signal combining method;
100.
Logic soft errors: a major barrier to robust platform design
机译:
逻辑软错误:强大的平台设计的主要障碍
作者:
Mitra S.
;
Ming Zhang
;
Mak T.M.
;
Seifert N.
;
Zia V.
;
Kee Sup Kim
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
关键词:
built-in self test;
design for testability;
error detection;
fault tolerance;
logic testing;
radiation hardening (electronics);
built-in soft error resilience;
debug resources;
design-for-functional-test;
fault tolerance techniques;
flip flops;
logic soft errors;
pe;
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