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Test Symposium, 2005. European
Test Symposium, 2005. European
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1.
Testing of resistive opens in CMOS latches and flip-flops
机译:
测试CMOS锁存器和触发器中的电阻性开路
作者:
Champac V.H.
;
Zenteno A.
;
Garcia J.L.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
CMOS logic circuits;
flip-flops;
logic testing;
CMOS flip-flops;
CMOS latches;
CMOS logic circuits;
CMOS memory elements;
input sequences;
logic gates;
logic testing;
resistive opens testing;
scan path chains;
2.
Test for low cost CMOS image sensors
机译:
测试低成本CMOS图像传感器
作者:
Maxwell
;
P.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
CMOS image sensors;
boundary scan testing;
image processing;
integrated circuit testing;
logic testing;
CMOS image sensors;
CMOS process;
array defects;
camera phones;
color correction;
color filters;
defective pixel cluster size;
demosaiced color images;
digital log;
3.
A new SoC test architecture with RF/wireless connectivity
机译:
具有RF /无线连接的新型SoC测试架构
作者:
Zhao D.
;
Upadhyaya S.
;
Margala M.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
integrated circuit design;
integrated circuit interconnections;
integrated circuit testing;
network routing;
scheduling;
system-on-chip;
trees (mathematics);
RF/wireless connectivity;
SoC test architecture;
control constrained resource partitioning;
distributed mu;
4.
A novel delay fault testing methodology using on-chip low-overhead delay measurement hardware at strategic probe points
机译:
一种新颖的延迟故障测试方法,在战略探测点使用片上低开销延迟测量硬件
作者:
Raychowdhury A.
;
Ghosh S.
;
Bhunia S.
;
Ghosh D.
;
Roy K.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
delays;
digital integrated circuits;
fault simulation;
integrated circuit testing;
logic testing;
DFT logic;
area overhead;
delay fault testing;
delay overhead;
fault detection;
logic blocks;
on-chip low-overhead delay measurement hardware;
process-tolerant hardware;
5.
Bias Superposition — An On-Line Test Strategy for a MEMS Based Conductivity Sensor
机译:
偏置叠加—基于MEMS的电导率传感器的在线测试策略
作者:
Jeffrey
;
C.
;
Zhou Xu
;
Richardson
;
A.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
6.
Coverage of formal properties based on a high-level fault model and functional ATPG
机译:
基于高级故障模型和功能性ATPG的形式属性覆盖
作者:
Fummi F.
;
Pravadelli G.
;
Toto F.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
automatic test pattern generation;
fault simulation;
formal verification;
integrated circuit testing;
automatic test pattern generation;
coverage metrics;
descriptions validation;
digital systems;
formal properties;
functional ATPG;
high-level fault model;
model ch;
7.
Energy minimization for hybrid BIST in a system-on-chip test environment
机译:
片上系统测试环境中混合BIST的能量最小化
作者:
Ubar R.
;
Shchenova T.
;
Jervan G.
;
Peng Z.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
automatic test pattern generation;
built-in self test;
integrated circuit testing;
logic testing;
random sequences;
system-on-chip;
built-in self-test;
deterministic test sequences;
deterministic test set;
energy minimization;
fast estimation method;
hybrid BIST te;
8.
Multiple errors produced by single upsets in FPGA configuration memory: a possible solution
机译:
FPGA配置存储器中的单个故障产生的多个错误:可能的解决方案
作者:
Sonza Reorda M.
;
Sterpone L.
;
Violante M.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
SRAM chips;
fault simulation;
field programmable gate arrays;
integrated circuit reliability;
logic testing;
network routing;
FPGA configuration memory;
SRAM;
field programmable gate arrays;
integrated circuit reliability;
multiple errors;
place algorithm;
route alg;
9.
Using dummy bridging faults to define a reduced set of target faults
机译:
使用虚拟桥接故障定义一组简化的目标故障
作者:
Pomeranz I.
;
Reddy S.M.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
automatic test pattern generation;
fault simulation;
integrated circuit testing;
logic testing;
automatic test pattern generation;
dummy bridging faults;
fault detection;
fault diagnosis;
integrated circuit testing;
reduced target fault set;
target bridging faults;
10.
Test Technology Technical Council
机译:
测试技术委员会
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
11.
Automatic March tests generation for static and dynamic faults in SRAMs
机译:
自动进行March测试以生成SRAM中的静态和动态故障
作者:
Benso A.
;
Bosio A.
;
Di Carlo S.
;
Di Natale G.
;
Prinetto P.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
SRAM chips;
automatic test pattern generation;
fault simulation;
integrated circuit testing;
SRAM;
automatic March tests generation;
dynamic memory faults;
formal model;
memory production modern technologies;
static memory faults;
12.
DOT: new deterministic defect-oriented ATPG tool
机译:
DOT:面向缺陷的新型确定性ATPG工具
作者:
Raik J.
;
Ubar R.
;
Sudbrock J.
;
Kuzmicz W.
;
Pleskacz W.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
automatic test pattern generation;
combinational circuits;
fault diagnosis;
integrated circuit testing;
logic testing;
automatic test pattern generation;
combinational circuits;
combinational deterministic test pattern generation;
defect-oriented deterministic t;
13.
Testing of MEMS-based microsystems
机译:
基于MEMS的微系统测试
作者:
Kerkhoff H.G.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
micromechanical devices;
semiconductor device testing;
MEMS testing;
MEMS-based microsystems;
electrical tests;
high-volume testing;
multidomain systems;
nonelectrical response;
nonelectrical stimuli;
structural tests;
14.
Time-multiplexed test data decompression architecture for core-based SOCs with improved utilization of tester channels
机译:
基于核心的SOC的时分复用测试数据解压缩架构,提高了测试器通道的利用率
作者:
Kinsman A.B.
;
Nicolici N.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
automatic test pattern generation;
data compression;
embedded systems;
integrated circuit design;
integrated circuit testing;
system-on-chip;
compressed test data;
concurrent testing;
core-based SOC;
embedded cores;
on-chip decompressors;
system-on-chip;
tester chan;
15.
Acceleration of transition test generation for acyclic sequential circuits utilizing constrained combinational stuck-at test generation
机译:
利用约束组合固定测试生成加速非循环时序电路的过渡测试生成
作者:
Iwagaki T.
;
Ohtake S.
;
Fujiwara H.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
automatic test pattern generation;
combinational circuits;
fault diagnosis;
integrated circuit testing;
logic testing;
sequential circuits;
acyclic sequential circuits;
automatic test pattern generation;
combinational stuck-at test generation;
double time-expansi;
16.
Accurate measurement of multi-tone power ratio (MTPR) of ADSL devices using low cost testers
机译:
使用低成本测试仪准确测量ADSL设备的多音功率比(MTPR)
作者:
Srinivasan G.
;
Cherubal S.
;
Variyam P.
;
Teklu M.
;
Wang C.P.
;
Guidry D.
;
Chatterjee A.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
automatic test equipment;
digital subscriber lines;
power measurement;
telecommunication equipment testing;
ADSL devices;
ASDL AFE devices;
ATE digitizer;
MTPR measurement;
TX MTPR test;
automatic test equipment;
central office ADSL analog front-end device;
digital;
17.
Built-in self-test of molecular electronics-based nanofabrics
机译:
内置基于分子电子学的纳米织物的自检
作者:
Wang Z.
;
Chakrabarty K.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
automatic test pattern generation;
built-in self test;
molecular electronics;
nanoelectronics;
BIST procedure;
built-in self-test;
chemically-assembled electronic nanotechnology;
defect densities;
defect-free nanoblocks;
defect-free switchblocks;
fault coverage;
mo;
18.
Convolutional compaction-driven diagnosis of scan failures
机译:
卷积压缩驱动的扫描失败诊断
作者:
Mrugalski G.
;
Pogiel A.
;
Rajski J.
;
Tyszer J.
;
Wang C.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
boundary scan testing;
built-in self test;
fault simulation;
integrated circuit testing;
Gauss Jordan elimination method;
convolutional test response compaction;
failing scan cells;
fault diagnosis;
scan failures;
scan-based designs;
19.
Defective behaviours of resistive opens in interconnect lines
机译:
互连线中电阻性开路的不良行为
作者:
Arumi D.
;
Rodriguez-Montane R.
;
Figueras J.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
CMOS digital integrated circuits;
crosstalk;
fault diagnosis;
integrated circuit interconnections;
integrated circuit testing;
CMOS digital test circuit;
bus structure;
crosstalk capacitances;
defect location;
fault diagnosis;
hold register;
integrated circuit test;
20.
Design validation of behavioral VHDL descriptions for arbitrary fault models
机译:
任意故障模型的行为VHDL描述的设计验证
作者:
Fei Xin
;
Ciesielski M.
;
Harris I.G.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
automatic test pattern generation;
constraint handling;
fault simulation;
hardware description languages;
arbitrary fault models;
behavioral VHDL descriptions;
constraint logic programming problem;
design faults;
flexible automatic test generation;
industrial CLP;
21.
Evaluation of impulse response-based BIST techniques for MEMS in the presence of weak nonlinearities
机译:
在存在弱非线性的情况下评估基于脉冲响应的MEMS BIST技术
作者:
Dhayni A.
;
Mir S.
;
Rufer L.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
built-in self test;
electron device testing;
micromechanical devices;
transient response;
BIST techniques;
MEMS testing;
built-in self-test;
device under test;
impulse response;
linear time-invariant devices;
specification-based functional testing;
weak nonlinearit;
22.
Evaluation of signature-based testing of RF/analog circuits
机译:
评估基于签名的RF /模拟电路测试
作者:
Zjajo A.
;
de Gyvez J.P.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
analogue integrated circuits;
fault diagnosis;
integrated circuit testing;
power supply circuits;
radiofrequency integrated circuits;
RF integrated circuits;
analog integrated circuits;
fault coverage;
functional testing;
integrated circuit testing;
low-frequency;
23.
Exploiting an infrastructure IP to reduce memory diagnosis costs in SoCs
机译:
利用基础架构IP来降低SoC中的内存诊断成本
作者:
Bernardi P.
;
Grosso M.
;
Rebaudengo M.
;
Sonza Reorda M.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
automatic test equipment;
built-in self test;
embedded systems;
fault diagnosis;
integrated circuit testing;
integrated circuit yield;
integrated memory circuits;
system-on-chip;
IC manufacturing phases;
automatic test equipment;
built-in self-test;
data volume tra;
24.
Fault collapsing for flash memory disturb faults
机译:
故障崩溃导致闪存故障
作者:
Mohammad M.G.
;
Terkawi L.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
fault simulation;
flash memories;
integrated memory circuits;
logic testing;
array operation;
array organization;
disturb faults;
fault collapsing;
flash memory;
manufacturing technology;
memory cell structure;
25.
Logic circuit testing for transient faults
机译:
逻辑电路测试瞬态故障
作者:
Krishnaswamy S.
;
Markov I.L.
;
Hayes J.P.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
fault simulation;
logic circuits;
logic testing;
transients;
atmospheric radiation;
circuit behavior;
detectability measure;
fault detection;
logic circuit testing;
matrix-based gate-fault model;
probabilistic transfer matrix model;
probability distributions;
proces;
26.
Path-oriented transition fault test generation considering operating conditions
机译:
考虑操作条件的面向路径的过渡故障测试生成
作者:
Seshadri B.
;
Pomeranz I.
;
Reddy S.M.
;
Kundu S.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
automatic test pattern generation;
delays;
fault simulation;
integrated circuit testing;
N-detection test generation;
circuit operation;
fault site;
junction temperature;
nominal delays;
operating conditions;
path delays;
path-oriented transition fault;
power supply;
27.
Stuck-open fault diagnosis with stuck-at model
机译:
卡死模型的卡塞故障诊断
作者:
Xinyue Fan
;
Moore W.
;
Hora C.
;
Gronthoud G.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
fault simulation;
integrated circuit testing;
logic testing;
FALOC;
fault diagnosis tools;
gate level description;
gate level fault models;
stuck-at model;
stuck-open fault diagnosis;
transistor level circuit description;
28.
Test control for secure scan designs
机译:
安全扫描设计的测试控制
作者:
Hely D.
;
Bancel F.
;
Flottes M.L.
;
Rouzeyre B.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
boundary scan testing;
design for testability;
integrated circuit design;
control-oriented design;
faulty devices;
integrated circuit design;
production testing;
secret data;
secure scan designs;
security design requirement;
security scan technique;
security vulner;
29.
The anatomy of nanometer timing failures
机译:
纳米时序故障的剖析
作者:
Hawkins C.
;
Segura J.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
CMOS integrated circuits;
integrated circuit testing;
logic testing;
nanotechnology;
CMOS integrated circuit;
IC timing failures;
nanometer timing failures;
timing performance;
timing properties;
30.
Towards on-line testing of MEMS using electro-thermal excitation
机译:
使用电热激励进行MEMS的在线测试
作者:
Mailly F.
;
Azais F.
;
Dumas N.
;
Latorre L.
;
Nouet P.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
|
2005年
关键词:
electron device testing;
magnetometers;
microsensors;
MEMS magnetometer;
MEMS testing;
electro-thermal excitation;
excitation signal modulation;
low-frequency thermal-based signal;
microelectromechanical systems;
online testing;
sensor testing;
thermal variations;
31.
Test for low cost CMOS image sensors
机译:
测试低成本CMOS图像传感器
作者:
Maxwell P.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
32.
Bias Superposition — An On-Line Test Strategy for a MEMS Based Conductivity Sensor
机译:
偏置叠加—基于MEMS的电导率传感器的在线测试策略
作者:
Jeffrey C.
;
Zhou Xu
;
Richardson A.
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
33.
Foreword
机译:
前言
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
34.
Steering Committee
机译:
指导委员会
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
35.
Program Committee
机译:
计划委员会
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
36.
Organizing Committee
机译:
组织委员会
会议名称:
《Test Symposium, 2005. European》
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