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IEEE VLSI Test Symposium
IEEE VLSI Test Symposium
召开年:
2020
召开地:
San Diego(US)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
Foreward
机译:
前锋
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
2.
VTS 2020 Organizing Committee
机译:
VTS 2020组委会
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
3.
VTS 2020 Steering and Program Committees
机译:
VTS 2020指导和计划委员会
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
4.
VTS 2020 Keynotes
机译:
VTS 2020主题演讲
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
5.
Non-Masking Non-Robust Tests for Path Delay Faults
机译:
路径延迟故障的非屏蔽非鲁棒测试
作者:
Irith Pomeranz
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
6.
Effective Design of Layout-Friendly EDT Decompressor
机译:
布局友好的EDT压缩器的有效设计
作者:
Yu Huang
;
Janusz Rajski
;
Mark Kassab
;
Nilanjan Mukherjee
;
Jeff Mayer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
7.
Input Test Data Volume Reduction Using Seed Complementation and Multiple LFSRs
机译:
使用种子补充和多个LFSR减少输入测试数据量
作者:
Irith Pomeranz
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
8.
In-field Functional Test of CAN Bus Controllers
机译:
CAN总线控制器的现场功能测试
作者:
Riccardo Cantoro
;
Sandro Sartoni
;
Matteo Sonza Reorda
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
software-based self-test;
software test library;
on-line test;
automotive electronics;
safety;
9.
SNIFU: Secure Network Interception for Firmware Updates in legacy PLCs
机译:
SNIFU:用于旧版PLC中固件更新的安全网络拦截
作者:
Hadjer Benkraouda
;
Muhammad Ashif Chakkantakath
;
Anastasis Keliris
;
Michail Maniatakos
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Secure firmware updates;
Industrial Control Systems;
Machine Learning;
10.
On Classification of Acceptable Images for Reliable Artificial Intelligence Systems: A Case Study on Pedestrian Detection
机译:
可靠人工智能系统可接受图像的分类:以行人检测为例
作者:
Tong-Yu Hsieh
;
Pin-Xuan Wu
;
Chun-Chao Cheng
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
11.
ATTEST: Application-Agnostic Testing of a Novel Transistor-Level Programmable Fabric
机译:
ATTEST:一种新型晶体管级可编程结构的与应用程序无关的测试
作者:
Mustafa Munawar Shihab
;
Bharath Ramanidharan
;
Suraag Sunil Tellakula
;
Gaurav Rajavendra Reddy
;
Jingxian Tian
;
Carl Sechen
;
Yiorgos Makris
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
12.
Mitigating Read Failures in STT-MRAM
机译:
减轻STT-MRAM中的读取失败
作者:
Sarath Mohanachandran Nair
;
Rajendra Bishnoi
;
Mehdi B. Tahoori
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
13.
Selective Checksum based On-line Error Correction for RRAM based Matrix Operations
机译:
基于RRAM的矩阵运算的基于选择性校验和的在线错误校正
作者:
Abhishek Das
;
Nur A. Touba
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
error correcting codes;
checksum;
RRAM;
neural networks;
soft errors;
machine learning;
majority voting;
Hamming codes;
14.
Flush+Time: A High Accuracy and High Resolution Cache Attack On ARM-FPGA Embedded SoC
机译:
冲洗+时间:对ARM-FPGA嵌入式SoC的高精度和高分辨率缓存攻击
作者:
Churan Tang
;
Pengkun Liu
;
Cunqing Ma
;
Zongbin Liu
;
Jingquan Ge
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
cache line;
flush;
cache attacks;
Spectre attack;
ARM-FPGA embedded SoC;
15.
SafeTPU: A Verifiably Secure Hardware Accelerator for Deep Neural Networks
机译:
SafeTPU:用于深度神经网络的可验证安全的硬件加速器
作者:
Maria I. Mera Collantes
;
Zahra Ghodsi
;
Siddharth Garg
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
16.
SeRFI: Secure Remote FPGA Initialization in an Untrusted Environment
机译:
SeRFI:在不受信任的环境中进行安全的远程FPGA初始化
作者:
Adam Duncan
;
Adib Nahiyan
;
Fahim Rahman
;
Grant Skipper
;
Martin Swany
;
Andrew Lukefahr
;
Farimah Farahmandi
;
Mark Tehranipoor
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
FPGA Security;
Encryption;
Secure Key Exchange;
17.
A Deterministic-Statistical Multiple-Defect Diagnosis Methodology
机译:
确定性统计的多缺陷诊断方法
作者:
Soumya Mittal
;
R. D. Shawn Blanton
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
18.
CNN-based Stochastic Regression for IDDQ Outlier Identification
机译:
基于CNN的IDDQ异常值识别的随机回归
作者:
Chun-Teng Chen
;
Chia-Heng Yen
;
Cheng-Yen Wen
;
Cheng-Hao Yang
;
Kai-Chiang Wu
;
Mason Chern
;
Ying-Yen Chen
;
Chun-Yi Kuo
;
Jih-Nung Lee
;
Shu-Yi Kao
;
Mango Chia-Tso Chao
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
19.
LSTM-based Analysis of Temporally- and Spatially-Correlated Signatures for Intermittent Fault Detection
机译:
基于LSTM的时空相关签名的间歇故障检测分析
作者:
Xingyi Wang
;
Li Jiang
;
Krishnendu Chakrabarty
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
component;
formatting;
style;
styling;
insert;
20.
A dynamic reconfiguration mechanism to increase the reliability of GPGPUs
机译:
动态重新配置机制可提高GPGPU的可靠性
作者:
Josie E. Rodriguez Condia
;
Pierpaolo Narducci
;
M. Sonza Reorda
;
L. Sterpone
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Fault mitigation;
Fault tolerance;
General Purpose Graphics Processing Units (GPGPUs);
Graphics Processors.;
21.
Automated Design For Yield Through Defect Tolerance
机译:
通过缺陷容忍度进行自动化设计的良率
作者:
Suriyaprakash Natarajan
;
Andres F. Malavasi
;
Pascal A. Meinerzhagen
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
yield;
timing;
defect;
defect tolerance;
reliability;
synthesis;
APR;
design-for-yield;
22.
Aging-resilient SRAM design: an end-to-end framework
机译:
耐老化的SRAM设计:端到端框架
作者:
Xuan Zuo
;
Sandeep K. Gupta
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
23.
Reliability Evaluation of Turbo Decoders Implemented on SRAM-FPGAs
机译:
基于SRAM-FPGA的Turbo解码器的可靠性评估
作者:
Zhen Gao
;
Lingling Zhang
;
Ruishi Han
;
Pedro Reviriego
;
Zhiqiang Li
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Turbo decoder;
Single Event Upsets (SEU);
reliability;
FPGA;
user memory;
configuration memory;
24.
ESL, Back-annotating Crosstalk Fault Models into High-level Communication Links
机译:
ESL,将串扰故障模型回注到高级通信链路中
作者:
Katayoon Basharkhah
;
Rezgar Sadeghi
;
Nooshin Nosrati
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
ESL (Electronic System Level);
Crosstalk fault;
Fault modeling;
25.
Pinhole Latent Defect Modeling and Simulation for Defect-Oriented Analog/Mixed-Signal Testing
机译:
面向缺陷的模拟/混合信号测试的针孔潜在缺陷建模和仿真
作者:
Jhon Gomez
;
Nektar Xama
;
Anthony Coyette
;
Ronny Vanhooren
;
Wim Dobbelaere
;
Georges Gielen
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
AMS Test;
Latent defect;
Modelling;
fault simulation;
26.
Switch Level Time Simulation of CMOS Circuits with Adaptive Voltage and Frequency Scaling
机译:
具有自适应电压和频率缩放功能的CMOS电路的开关电平时间仿真
作者:
Eric Schneider
;
Hans-Joachim Wunderlich
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
AVFS;
parametric variations;
switch level time simulation;
GPU parallelization;
statistical learning;
27.
Co-Optimization of Grid-Based TAM Wire Routing and Test Scheduling with Reconfigurable Wrappers
机译:
与可重构包装器共同优化基于网格的TAM布线和测试计划
作者:
Jui-Hung Hung
;
Shih-Hsu Huang
;
Chun-Hua Cheng
;
Hsu-Yu Kao
;
Wei-Kai Cheng
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Layout;
Routing Congestion;
SoC Testing;
Test Scheduling;
Test Time Minimization;
28.
Dynamic Multi-Frequency Test Method for Hidden Interconnect Defects
机译:
隐藏互连缺陷的动态多频测试方法
作者:
Somayeh Sadeghi-Kohan
;
Sybille Hellebrand
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Crosstalk Defect;
Electro-Migration;
Hidden Interconnect Defects (HID);
Multi-frequency Test;
29.
Internal I/O Testing: Definition and a Solution
机译:
内部I / O测试:定义和解决方案
作者:
Sreejit Chakravarty
;
Fei Su
;
Indira A Gohad
;
Sudheer V Bandana
;
B S Adithya
;
Wei-Ming Lim
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Internal I/O;
No-Touch Test;
Detectability;
DFT;
3D Interconnect;
30.
A Zero-Cost Detection Approach for Recycled ICs using Scan Architecture
机译:
使用扫描架构的回收IC零成本检测方法
作者:
Wendong Wang
;
Ujjwal Guin
;
Adit Singh
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Recycled ICs;
scan flip-flops;
bias temperature instability;
power-up state;
31.
DFSSD: Deep Faults and Shallow State Duality, A Provably Strong Obfuscation Solution for Circuits with Restricted Access to Scan Chain
机译:
DFSSD:深度故障和浅层状态对偶性,一种对扫描链访问受限的电路的强大的模糊解决方案
作者:
Shervin Roshanisefat
;
Hadi Mardani Kamali
;
Kimia Zamiri Azar
;
Sai Manoj Pudukotai Dinakarrao
;
Naghmeh Karimi
;
Houman Homayoun
;
Avesta Sasan
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
32.
Taming Combinational Trojan Detection Challenges with Self-Referencing Adaptive Test Patterns
机译:
利用自参考自适应测试模式应对组合式特洛伊木马检测挑战
作者:
Chris Nigh
;
Alex Orailoglu
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
33.
Ultra-Wideband Modulation Signal Measurement Using Local Sweep Digitizing Method
机译:
使用局部扫描数字化方法的超宽带调制信号测量
作者:
Koji Asami
;
Keisuke Kusunoki
;
Nobuhiro Shimizu
;
Yoshiyuki Aoki
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
5G;
Wireless LAN;
Transceiver;
ATE;
waveform digitizer;
subband synthesis;
34.
Built-In Self-Test for Multi-Threshold NULL Convention Logic Asynchronous Circuits
机译:
内置多阈值NULL约定逻辑异步电路的自测试
作者:
Brett Sparkman
;
Scott C. Smith
;
Jia Di
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Built-In Self-Test (BIST);
asynchronous logic;
NULL Convention Logic (NCL);
Multi-Threshold NULL Convention Logic (MTNCL);
Sleep Convention Logic (SCL);
35.
Quantile – Quantile Fitting Approach to Detect Site to Site Variations in Massive Multi-site Testing
机译:
分位数-分位数拟合方法可在大规模多站点测试中检测站点之间的差异
作者:
Praise O. Farayola
;
Shravan K. Chaganti
;
Abdullah O. Obaidi
;
Abalhassan Sheikh
;
Srivaths Ravi
;
Degang Chen
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Multi-site;
Quantile-Quantile Plot;
Regression Fitting;
Box-Plot;
Site to Site Variations;
36.
A New Secure Scan Design with PUF-based Key for Authentication
机译:
带有基于PUF的身份验证密钥的新安全扫描设计
作者:
Qidong Wang
;
Aijiao Cui
;
Gang Qu
;
Huawei Li
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
scan chain;
scan-based side-channel attack;
golden key;
PUF;
37.
Sequence Triggered Hardware Trojan in Neural Network Accelerator
机译:
神经网络加速器中的序列触发硬件木马
作者:
Zizhen Liu
;
Jing Ye
;
Xing Hu
;
Huawei Li
;
Xiaowei Li
;
Yu Hu
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Deep Neural Network;
Hardware Accelerator;
Hardware Trojan;
Trigger;
38.
Low-Power Weighted Pseudo-Random Test Pattern Generation for Launch-on-Capture Delay Testing*
机译:
低功耗加权伪随机测试码型生成,用于捕获时启动延迟测试*
作者:
Dong Xiang
;
Jiaming Cai
;
Bo Liu
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Weighted pseudo-random pattern generation;
launch-on-capture transition fault testing.;
39.
Special Session: Novel Attacks on Logic-Locking
机译:
特别会议:逻辑锁定的新颖攻击
作者:
Ayush Jain
;
Ujjwal Guin
;
M Tanjidur Rahman
;
Navid Asadizanjani
;
Danielle Duvalsaint
;
R. D. Shawn Blanton
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Logic Locking;
Obfuscation;
Hardware Trojan;
Optical Probing;
ATPG;
40.
Special Session: Physically Flexible Devices for Health and Activity Monitoring: Challenges from Design to Test
机译:
特别会议:用于健康和活动监测的物理灵活设备:从设计到测试的挑战
作者:
Yigit Tuncel
;
Ganapati Bhat
;
Umit Y. Ogras
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Health;
Activity Monitoring;
Wearable Technology;
Flexible Electronics;
Energy Harvesting;
Energy Management;
Design and Test;
41.
Special Session – Emerging Memristor Based Memory and CIM Architecture: Test, Repair and Yield Analysis
机译:
特别会议–基于忆阻器的新兴内存和CIM架构:测试,修复和成品率分析
作者:
Rajendra Bishnoi
;
Lizhou Wu
;
Moritz Fieback
;
Christopher Münch
;
Sarath Mohanachandran Nair
;
Mehdi Tahoori
;
Ying Wang
;
Huawei Li
;
Said Hamdioui
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
42.
Special Session: AutoSoC - A Suite of Open-Source Automotive SoC Benchmarks
机译:
特别会议:AutoSoC-一套开源汽车SoC基准测试
作者:
Felipe Augusto da Silva
;
Ahmet Cagri Bagbaba
;
Annachiara Ruospo
;
Riccardo Mariani
;
Ghani Kanawati
;
Ernesto Sanchez
;
Matteo Sonza Reorda
;
Maksim Jenihhin
;
Said Hamdioui
;
Christian Sauer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Automotive benchmark;
SoC;
open-source;
Functional Safety;
ISO 26262;
43.
Special Session: The Recent Advance in Hardware Implementation of Post-Quantum Cryptography
机译:
特别会议:后量子密码技术在硬件实现方面的最新进展
作者:
Jiafeng Xie
;
Kanad Basu
;
Kris Gaj
;
Ujjwal Guin
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Post-quantum cryptography;
hardware implementation;
challenges;
high-level synthesis;
binary Ring-LWE;
44.
Special Session: Survey of Test Point Insertion for Logic Built-in Self-test
机译:
特别会议:逻辑内置自测的测试点插入调查
作者:
Yang Sun
;
Spencer K. Millican
;
Vishwani D. Agrawal
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
survey;
test points;
test point insertion;
built-in self-test;
path delay test;
pseudo-random test;
45.
Special Session: Test Challenges in a Chiplet Marketplace
机译:
特别会议:芯片市场中的测试挑战
作者:
M. Hutner
;
R. Sethuram
;
B. Vinnakota
;
D. Armstrong
;
A. Copperhall
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
关键词:
ODSA;
2.5D/3D;
chiplet;
HBM;
D2D;
KGD;
IEEE1149;
IEEE1687;
IEEE1838;
Test;
CoT;
BoW;
HIR;
46.
Innovative Test Practices in Asia
机译:
亚洲的创新测试实践
作者:
Takeshi Iwasaki
;
Masao Aso
;
Haruji Futami
;
Satoshi Matsunaga
;
Yousuke Miyake
;
Takaaki Kato
;
Seiji Kajihara
;
Yukiya Miura
;
Smith Lai
;
Gavin Hung
;
Harry H. Chen
;
Haruo Kobayashi
;
Kazumi Hatayama
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2020年
47.
Innovative Practice on Wafer Test Innovations
机译:
晶圆测试创新的创新实践
作者:
Dyi-Chung Hu
;
Hirohito Hashimoto
;
Li-Fong Tseng
;
Ken Chau-Cheung Cheng
;
Katherine Shu-Min Li
;
Sying-Jyan Wang
;
Sean Y.-S. Chen
;
Jwu E Chen
;
Clark Liu
;
Andrew Huang
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2020年
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