机译:SEU容限触发器的结构允许增强的扫描延迟故障测试
Delay fault testing; enhanced scan testing; scan flip-flop; single event upset (SEU); soft error tolerance;
机译:扫描触发器具有针对输入延迟和串扰故障的在线测试能力
机译:使用DTESFF进行局部增强扫描链的触发器选择,以实现高过渡延迟故障覆盖率
机译:可延迟测试的增强型扫描触发器的性能评估
机译:可延迟测试的增强型扫描触发器:DFT可实现较高的故障覆盖率
机译:测试点,部分扫描和全扫描触发器插入的信息理论和频谱方法,以提高集成电路的可测试性
机译:基于信任的故障检测和鲁棒容错控制不确定的网络物理系统免受时间延迟注入攻击的影响
机译:两级卡在故障测试数据压缩使用扫描触发器,延迟故障可测试性