机译:晶圆级MEMS垂直探针卡设计
School of Mechanical Engineering and Astronautics, Chung-Hua University, Hsinchu, Taiwan 300, R.O.C.;
IC probe card; wafer level; TDBI; low k elastomer;
机译:结合有限元方法和优化技术的新型探针设计,用于晶圆探测中的垂直探针卡
机译:使用具有垂直馈通的SOI盖晶片的MEMS晶片级气密封装的先进MEMS工艺
机译:晶圆级探针垂直接触探针的接触行为研究与设计
机译:接地保护结构可减少用于晶片级测试的垂直探针卡中的串扰噪声和电磁干扰(EMI)
机译:用于新型MEMS晶圆探针卡的微探针的设计,仿真,制造和测试。
机译:通过胶粘晶圆键合为MEMS和成像传感器提供经济高效的晶圆级封盖
机译:具有超密集阵列金属探针的mEms垂直探针卡,用于晶圆级IC测试