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Relative Irradiance Measurement and Bonding Configurations of Amorphous Fluorinated Carbon Films Deposited by Electron Cyclotron Resonance Plasma

机译:电子回旋共振等离子体沉积非晶氟化碳膜的相对辐照度测量和键合构型

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摘要

α-C: F films are deposited by microwave electron cyclotron resonance (ECR) plasma chemical vapor deposition (CVD) using trifluoromethane (CHF_3) and benzene (C_6H_6) as source gases at different microwave powers. The radicals in plasma originating from source gases disso- ciation are analyzed by relative irradiance measurement.
机译:使用三氟甲烷(CHF_3)和苯(C_6H_6)作为源气体,以不同的微波功率通过微波电子回旋共振(ECR)等离子体化学气相沉积(CVD)沉积α-C:F膜。通过相对辐照度测量来分析源自源气体离解的等离子体中的自由基。

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