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【24h】

Diagonal Mode van der Pauw Stress Sensors: Proof of Diagonal-Mode Conjecture

机译:对角模范德堡应力传感器:对角模猜想的证明

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摘要

The conjecture discussed in our previous paper [Jaeger, R. C., Motalab, M., Hussain, S., and Suhling, J. C., 2014, "Four-Wire Bridge Measurements of Silicon van der Pauw Stress Sensors," ASME J. Electron. Packag., 136(4), p. 041014; Jaeger, R. C., Motalab, M., Hussain, S., and Suhling, J. C., 2018, Erratum: "Four-Wire Bridge Measurements of Silicon van der Pauw Stress Sensors," ASME J. Electron. Packag., 140(1), p. 0170011 was backed up by measurements and simulation results, but not mathematically proven. A proof based upon two-port impedance parameter reciprocity is presented with additional experimental confirmation.
机译:我们先前的论文中讨论了这个猜想[Jaeger,RC,Motalab,M.,Hussain,S.和Suhling,JC,2014,“硅线范德堡应力传感器的四线电桥测量,” ASME J. Electron 。 Packag。,136(4),p。 041014; Jaeger,R. C.,Motalab,M.,Hussain,S.和Suhling,J. C.,2018年,勘误表:“硅van der Pauw应力传感器的四线电桥测量”,ASME J. Electron。包装,140(1),p。 0170011得到了测量和仿真结果的支持,但没有经过数学证明。提出了基于两端口阻抗参数互易性的证明,并提供了额外的实验确认。

著录项

  • 来源
    《Journal of Electronic Packaging》 |2018年第4期|044501.1-044501.3|共3页
  • 作者单位

    Auburn Univ, Elect & Comp Engn, 200 Broun Hall, Auburn, AL 46849 USA;

    Auburn Univ, Mech Engn, 1418 Wiggins Hall, Auburn, AL 46849 USA;

    Auburn Univ, Mech Engn, 1418 Wiggins Hall, Auburn, AL 46849 USA;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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