机译:对角模范德堡应力传感器:对角模猜想的证明
Auburn Univ, Elect & Comp Engn, 200 Broun Hall, Auburn, AL 46849 USA;
Auburn Univ, Mech Engn, 1418 Wiggins Hall, Auburn, AL 46849 USA;
Auburn Univ, Mech Engn, 1418 Wiggins Hall, Auburn, AL 46849 USA;
机译:常应应力半导体传感器使用组合的方形范德波坑结构
机译:勘误表:“硅范德堡应力传感器的四线电桥测量” [ASME J. Electron。包装,2014,136(4),p。 041014; DOI:10.1115 / 1.4028333
机译:硅范德堡应力传感器的四线电桥测量
机译:(100)和(111)硅上的范德堡应力传感器的四线桥接测量
机译:Van der Pauw结构在压阻应力传感器中的应用
机译:使用Van-der-Pauw法评估在柔性无涂层纸基材上喷墨印刷的Ag层的薄层电阻
机译:生物阻抗传感器,以基于van der Pauw方法检测牛奶中的含水量
机译:关于Egorycev证明范德瓦尔登猜想的一个注记