机译:使用基于电热粒子的器件模拟器研究SOI和常规MOSFET中的自热效应
FEIT, University Sts. Cyril and Methodius. Skopje,Republic of Macedonia;
Arizona State University, Tempe, AZ, USA;
Intel Corp., Chandler, AZ, USA;
Arizona State University, Tempe, AZ, USA;
Arizona State University, Tempe, AZ, USA;
self-heating effects; fully-depleted SOI devices; silicon on diamond and silicon on AlN; nanowire transistors; conventional MOSFETs;
机译:超薄体SOI MOSFET自热效应的器件仿真分析
机译:自热对0.1μmSOI MOSFET器件性能的影响(包括速度过冲)的研究
机译:对0.1μmSOIMOSFET的装置性能的自热影响,包括速度过冲
机译:加热速度对0.lμmSOI MOSFET器件性能的自热影响研究
机译:MOSFET器件电热性能耦合的新仿真模型。
机译:基于声子散射机理的超薄体FD SOI MOSFET导热特性研究
机译:对深亚微米FD-SOI MOSFET热噪声的自热响应
机译:JFET,mOsFET及相关器件中的闪烁噪声和热电子噪声研究