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【2h】

Self-heating effects on the thermal noise of deep sub-micron FD-SOI MOSFETs

机译：对深亚微米FD-SOI MOSFET热噪声的自热响应

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Can Baltaci; Yusuf Leblebici;
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年度 2017
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机译：速度饱和和热载流子效应对深亚微米MOSFET沟道热噪声模型的影响
2. Corrigendum To 'an Analytical Channel Thermal Noise Model For Deep Sub-micron Mosfets With Short Channel Effects' [solid State Electronics 51(7) (2007) 1034-1038] [J] . Jongwook Jeon, Jong Duk Lee, Byung-Gook Park, Solid-State Electronics . 2008,第11期

机译：“具有短通道效应的深亚微米Mosfets的分析通道热噪声模型”的更正[固态电子技术51（7）（2007）1034-1038]
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机译：具有短沟道效应的深亚微米MOSFET的分析沟道热噪声模型
4. Self-heating effects on the thermal noise of deep sub-micron FD-SOI MOSFETs [C] . Can Baltaci, Yusuf Leblebici Conference on Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics . 2017

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5. Modeling, testing and analysis for delay defects and noise effects in deep sub-micron devices. [D] . Liou, Jing-Jia. 2002

机译：对深亚微米设备中的延迟缺陷和噪声影响进行建模，测试和分析。
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7. On the Separate Extraction of Self-Heating and Substrate Effects in FD-SOI MOSFET [O] . Lucas Nyssens, M. Rack, A. Halder, 2021

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