...
机译:基于双电极的无掺杂隧道FET的模拟性能研究
Dr BR Ambedkar Natl Inst Technol Jalandhar, Dept Elect & Commun Engn, Jalandhar 144011, India;
Dr BR Ambedkar Natl Inst Technol Jalandhar, Dept Elect & Commun Engn, Jalandhar 144011, India;
Dr BR Ambedkar Natl Inst Technol Jalandhar, Dept Elect & Commun Engn, Jalandhar 144011, India;
Band to band tunneling; Charge plasma; DGTFET; Analog parameters; Doping-less TFET;
机译:基于InAs的双电极隧道FET在模拟/ RF平台上的性能研究
机译:栅极失准对基于电荷等离子体的无掺杂隧道FET的模拟/ RF性能的影响
机译:具有Si0.55Ge0.45源的无掺杂隧道FET的模拟和RF性能
机译:氧化物工程对较少DMDG MOSFET模拟/射频性能的影响
机译:基于高导电Li7LA3ZR2O12固态电解质和稳定电极电解质界面的高性能锂离子电池研究
机译:Ge / Si0.6Ge0.4 / Si异质结高性能无掺杂TFET的设计与研究
机译:一种SiGe源掺杂的双栅极隧道FET:基于增强性能的充电等离子体技术的设计与分析