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Carrier mobility in strained Ge nanowires

机译:应变锗纳米线中的载流子迁移率

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摘要

We present fully atomistic calculations of the electron and hole mobilities in Ge nanowires with diameter up to 10 nm. We show that the phonon-limited mobility is strongly dependent on the diameter and on the orientation of the nanowire, and is also very responsive to unaxial strains. The similarities and differences with the case of Si nanowires are highlighted. In strained Ge nanowires, the mobility can reach >3000 cm2/V/s for electrons and 12000 cm2/V/s for holes. Ge nanowires are therefore promising nanostructures for ultimate electronic devices.
机译:我们介绍了直径高达10 nm的Ge纳米线中电子和空穴迁移率的完全原子计算。我们表明,声子受限的迁移率在很大程度上取决于纳米线的直径和方向,并且对非轴向应变也非常敏感。突出了与硅纳米线情况的异同。在应变的Ge纳米线中,电子的迁移率可以达到> 3000 cm 2 / V / s,空穴的迁移率可以达到12000 cm 2 / V / s。因此,锗纳米线是有希望用于最终电子设备的纳米结构。

著录项

  • 来源
    《Journal of Applied Physics 》 |2012年第8期| p.1-4| 共4页
  • 作者单位

    L_Sim, SP2M, UMR-E CEA/UJF-Grenoble 1, INAC, Grenoble, France;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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