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机译:H〜+离子对H_2等离子体中多层石墨烯的损伤和腐蚀
Univ. Grenoble Alpes, CNRS, CEA-Leti Minatec, LTM, 38054 Grenoble Cedex, France;
Univ. Grenoble Alpes, CNRS, CEA-Leti Minatec, LTM, 38054 Grenoble Cedex, France;
Univ. Grenoble Alpes, CNRS, CEA-Leti Minatec, LTM, 38054 Grenoble Cedex, France;
Department of Chemical Engineering, University of California at Berkeley, Berkeley, California 94720, USA;
机译:在Ar / CH_4 / H_2等离子体中对溅射的铟锌氧化物膜进行离子辅助化学刻蚀时,深腐蚀引起的损伤
机译:电感耦合的Cl_2 / CH_4 / H_2 / Ar和BCl_3 / CH_4 / H_2 / Ar等离子体中ZnO和Al掺杂ZnO的刻蚀特性
机译:使用有机等离子体进行磁性金属蚀刻。 Ⅰ。 CO / H_2等离子体
机译:通过N_2和H_2的蚀刻蚀刻有机IOW-K膜的表面反应
机译:硅/硅锗化物异质结构的各向异性碳氟化合物等离子体刻蚀和等离子体刻蚀引起的侧壁损伤
机译:半开放环境下电弧放电等离子体中合成多层石墨烯的策略
机译:高纵横比多层蚀刻中N2 / HBR等离子体中溴化铵的沉积谱
机译:等离子体诱导损伤对离子注入Gaas mEsFET在反应离子刻蚀(RIE)和等离子体灰化过程中通道层的影响。