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【24h】

Anisotropic fluorocarbon plasma etching of silicon/silicon germanide heterostructures and plasma etching-induced sidewall damage

机译:硅/硅锗化物异质结构的各向异性碳氟化合物等离子体刻蚀和等离子体刻蚀引起的侧壁损伤

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著录项

  • 作者

    Ding, Ruhang;

  • 作者单位

    The University of Wisconsin - Madison;

  • 授予单位 The University of Wisconsin - Madison;
  • 学科
  • 学位 Ph.D.
  • 年度 2008
  • 页码 125 p.
  • 总页数 125
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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