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Fabrication of Two-Depth Apodized Grating by Selective Etching of InP in CH4/H2 Reactive Ion Etching

机译:在CH4 / H2反应离子刻蚀中通过InP的选择性刻蚀来制造两深度切趾光栅

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摘要

We fabricated the basic structure of an apodized grating with two depths of 120 and 200 nm for InP in one etching process during reactive ion etching (RIE) with methane and hydrogen. In the process, we first performed selective RIE, in which InP windows of the grating were etched in a region with a thick layer but not etched with polymer deposition in a region without the thick layer. Next, we performed oxygen plasma exposure to remove the polymer and a second RIE for the windows of the gratings both with and without the thick layers.
机译:我们在甲烷和氢的反应离子刻蚀(RIE)的一个刻蚀过程中,为InP制作了深度为120和200 nm的变迹光栅的基本结构。在此过程中,我们首先执行选择性RIE,其中在具有厚层的区域中蚀刻光栅的InP窗口,而在没有厚层的区域中通过聚合物沉积来蚀刻。接下来,我们进行了氧等离子体暴露,以去除聚合物和带有和不带有厚层的光栅窗口的第二RIE。

著录项

  • 来源
    《Japanese journal of applied physics》 |2011年第7issue1期|p.078003.1-078003.2|共2页
  • 作者单位

    NTT Photonics Laboratories, NTT Corporation, Atsugi, Kanagawa 243-0198, Japan;

    NTT Photonics Laboratories, NTT Corporation, Atsugi, Kanagawa 243-0198, Japan;

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  • 正文语种 eng
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