机译:一种用于检测CMOS复杂单元中多个卡塞开路故障的自适应BIST设计
CMOS logic circuits; built-in self test; fault diagnosis; logic testing; CMOS complex cell; CUT design; TPG; adaptive BIST design; circuit under test; multiple stuck-open fault detection; test pattern generator; test sequence generation; test vector; Built-in self-te;
机译:使用转移计数检测CMOS电路中多个卡死故障的BIST设计
机译:使用转移计数检测CMOS电路中多个卡死故障的BIST设计
机译:改进的IDDQ可测试性设计技术,可检测CMOS卡死故障
机译:自适应BIST检测CMOS电路中的多个卡塞开路故障
机译:低功率CMOS传感器,用于检测飞机接线中的故障。
机译:用于传感器应用180 nm CMOS过程中SWIPT系统的自适应控制和通信协议的设计
机译:由于可变的内部延迟,可靠地检测CMOS卡住开放断层
机译:CmOs IC卡住开路故障的电气测量。