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刘建都;
无;
存储单元; CMOS; 开路故障; 可测性; 设计;
机译:电源线的双重用途以进行可测性设计— CMOS接收器设计
机译:一种用于检测CMOS复杂单元中多个卡塞开路故障的自适应BIST设计
机译:开路故障可测试CMOS复合门的设计
机译:采用MTCMOS技术的1伏CMOS存储单元的软错误抗扰性
机译:分析参数变化对低于100 nm CMOS存储单元中单事件响应的影响。
机译:多设备开路故障下基于降阶最优控制策略的ANPC三电平逆变器容错控制
机译:智能驱动的测试系统,用于检测CMOS时序电路中的开路故障
机译:CmOs IC卡住开路故障的电气测量。
机译:多端口双极CMOS存储单元(多端口双极CMOS存储单元)
机译:静态半导体存储器(SRAM),用于CMOS存储单元的LV操作,每个存储单元具有六个具有指定电导率的晶体管
机译:CMOS图像传感器的数据总线,包括具有改善操作速度的结构的存储单元,以及包含相同图像的CMOS图像传感器
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