机译:通过基于图像处理的包装纹理和缩进分析回收和注释假冒集成电路检测
Indian Inst Technol Kharagpur Dept Comp Sci & Engn Kharagpur 721302 W Bengal India;
Indian Inst Technol Kharagpur Dept Comp Sci & Engn Kharagpur 721302 W Bengal India;
Active contour model; counterfeit integrated circuit (IC) detection; image processing; indent detection; texture analysis;
机译:通过基于图像处理的封装纹理和压痕分析对回收和标记的假冒集成电路进行检测
机译:假冒集成电路:检测和避免
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