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老化传感器及假冒集成电路检测

摘要

示出了一种片上老化传感器以及用于检测假冒集成电路的相关联的方法。在一个实例中,所述片上老化传感器被集成在芯片内。在一个实例中,所述片上传感器包含片上老化传感器和反熔丝存储器块两者,所述反熔丝存储器块包含对所述芯片唯一的静态信息。

著录项

  • 公开/公告号CN108474812A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-08-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 加利福尼亚大学董事会;

    申请/专利号CN201680077951.6

  • 发明设计人 谢尔顿·向东·谭;何凯;黄欣;

    申请日2016-10-28

  • 分类号G01R27/00(20060101);G01R27/02(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人纪雯

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 06:20:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R27/00 申请日:20161028

    实质审查的生效

  • 2018-08-31

    公开

    公开

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