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机译:微小弯曲和/或焊线弯曲对弯曲变形的影响,用于3-D和多芯片模块半导体封装
Institute of Mechatronic Engineering, Cheng Shiu University, Kaohsiung, Taiwan;
Bend, Kink; Electronic packaging; Multichip modules; Sag deflection; bend; kink; multichip modules; sag deflection;
机译:半导体封装引线键合技术中的线垂问题
机译:多芯片IGBT电源模块中的粘合线故障的本地化和检测
机译:层压多芯片模块在9 GHz数字多芯片电路封装中的用途
机译:三维和多芯片模块包装长线键合线凹槽的实验测量
机译:微电子封装中导线和导线键合的确定性和概率热疲劳模型之间的比较。
机译:纳米半导体封装中高温老化后金和钯包覆铜线的可靠性评估和活化能研究
机译:多芯片IGBT电源模块中的粘合线故障的本地化和检测
机译:模块化3-D多芯片模块的热特性