机译:ATPG-XP:最大串扰引起的故障的测试生成
Automatic test-pattern generation (ATPG); crosstalk delay faults; fault pruning; path-delay faults; timing analysis;
机译:使用改进的FAN算法生成VLSI电路中串扰引起的延迟故障的测试
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机译:串扰引起的故障的测试生成:框架和计算结果
机译:使用不受约束的攻击者激励,以最大的串扰感应噪声高效生成测试
机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:考虑故障排除效率和错误产生的测试覆盖软件可靠性模型
机译:使用改进的风扇算法在VLSI电路中进行串扰引起的延迟故障的测试
机译:基于VHDL故障仿真可行性的故障仿真,故障分级和测试模式生成技术综述。