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张旻晋; 李华伟; 李晓维;
中国科学院计算机系统结构重点实验室,北京,100190;
中国科学院计算技术研究所,北京,100190;
中国科学院研究生院,北京,100049;
串扰; 集成电路测试; 测试生成; 最大可满足问题;
机译:ATPG-XP:最大串扰引起的故障的测试生成
机译:捕获期间面向功耗的测试生成中的检测伪外部输出确定方法
机译:有效的测试生成具有最大串扰引起的噪声使用无约束侵略性刺激的噪声
机译:VLSI数字电路中的串扰故障测试生成和分层时序验证。
机译:面向基线噪声的表面肌电图中的非线性误差:一种新方法
机译:面向SDL规范的验证技术和自动测试生成方法的工业应用
机译:具有最大容量和最小串扰的体全息互连
机译:能够降低串扰噪声的多层互连板(能够降低串扰噪声的多层互连板)
机译:基于分离串扰模型的峰值串扰噪声估计方法
机译:磁拾取器之间的串扰补偿系统-使用晶体管电路来最大程度地减少磁和电容串扰
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