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【2h】

Test Generation for Crosstalk-Induced Delay Faults in VLSI Circuits Using Modified FAN Algorithm

机译：使用改进的风扇算法在VLSI电路中进行串扰引起的延迟故障的测试

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S. Jayanthy; M. C. Bhuvaneswari; Keesarapalli Sujitha;
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年度 2012
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1. Test Generation for Crosstalk-Induced Delay Faults in VLSI Circuits Using Modified FAN Algorithm [J] . S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari, Keesarapalli Sujitha VLSI Design . 2012,第Null期

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2. Test Generation for Crosstalk-Induced Delay Faults in VLSI Circuits Using Modified FAN Algorithm [J] . S.Jayanthy, M. C.Bhuvaneswari, KeesarapalliSujitha VLSI Design . 2012,第3期

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3. An Efficient Multi-Objective Genetic Algorithm for Low Power Testing of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits [J] . S. Jayanthy, M.C. Bhuvaneswari Advances in modelling and analysis . 2011,第1a2期

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4. A Test Method for Crosstalk-induced Delay Faults in Digital Circuits [C] . L.Yuan, Z.H.Xu, D.B.Shan, ISTM/2007;International symposium on test and measurement . 2007

机译：数字电路中串扰引起的延迟故障的测试方法
5. Delay fault testing for VLSI circuits. [D] . Krstic, Angela. 1998

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6. Test Generation Algorithm for Fault Detection of Analog Circuits Based on Extreme Learning Machine [O] . Jingyu Zhou, Shulin Tian, Chenglin Yang, 2014

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7. Test Generation for Current Testing of Bridging Faults in CMOS VLSI Circuits [O] . Terry Lee, Ibrahim N. Hajj 1996

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8. Latent Failures and Coverage in Fault-Tolerant Systems. A VLSI CMOS Circuit Design Technique to Aid Test Generation [R] . Amer, H. H., McCluskey, E. J. 1986

机译：容错系统中的潜在故障和覆盖。一种用于辅助测试生成的VLsI CmOs电路设计技术

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