机译:实现高SNR电阻抗层析成像的结构化设计方法
Dartmouth Coll, Thayer Sch Engn, Hanover, NH 03755 USA|Apple Inc, Cupertino, CA 95014 USA;
Dartmouth Coll, Thayer Sch Engn, Hanover, NH 03755 USA;
Electrical impedance tomography; SNR; matched filter; instrumentation amplifier; ADC; IA; driver; frame rate;
机译:结构化设计方法实现高SNR电阻断层扫描
机译:改善电阻抗断层扫描中测量系统SNR的方法
机译:电阻抗层析成像中电极结构和参数的优化设计
机译:迈向使用全参考SNR进行电阻抗层析成像系统性能评估的通用方法
机译:高SNR电阻抗层析成像集成电路
机译:流动限制肺病电阻抗断层扫描的叙事综述:方法论和应用
机译:实时演示:使用颜色编码的完整参考SNR方法进行电阻抗断层扫描系统的性能评估