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Structured Design Methodology to Achieve a High SNR Electrical Impedance Tomography

机译:实现高SNR电阻抗层析成像的结构化设计方法

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摘要

In this paper, we present amethodology for designing the main circuit building blocks of an electrical impedance tomography (EIT) system. In particular, we derive equations that map system-level EIT specifications to the performance requirements of each circuit block. We also review the circuit architectures that are best suited for meeting a given set of performance requirements. Our proposed design methodology is focused on maximizing the EIT system's signal-to-noise ratio while minimizing total power consumption.
机译:在本文中,我们提出了一种用于设计电阻抗断层扫描(EIT)系统的主要电路构件的方法。特别是,我们导出了将系统级EIT规范映射到每个电路块的性能要求的方程式。我们还将介绍最适合满足给定性能要求的电路架构。我们提出的设计方法论着眼于最大化EIT系统的信噪比,同时将总功耗降至最低。

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