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电阻抗层析成像形状灵敏度计算与分析

摘要

电阻抗层析成像空间分辨率低,是制约其在工业和医学领域中进一步推广的关键因素.形状重建方法以被测介质的边界形状为未知量,直接重建目标场域内电阻抗分布的几何轮廓,有效地改善电学成像问题的欠定性和病态性,具有较好的应用前景.通过采用基于互易原理推导出电阻抗层析成像形状灵敏度的快速计算公式,并基于该公式分析电阻抗层析成像形状敏感场的分布规律.该研究有助于提高形状重建算法的计算效率,推动形状重建算法的实际应用.

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