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Solving the electrical impedance tomography inverse problem for logarithmic conductivity: Numerical sensitivity

机译:解决对数电导率的电阻抗层析成像反问题:数值灵敏度

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摘要

PurposeIn the context of electrical impedance tomography (EIT), this paper aims to evaluate limitations of estimating conductivity or resistivity, as well as the improvements achieved with the use of an alternate description of the solution space, the logarithmic conductivity.
机译:目的在电阻抗断层扫描(EIT)的背景下,本文旨在评估电导率或电阻率估算的局限性,以及通过使用溶液空间的替代描述(对数电导率)获得的改进。

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