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Kelvin-Testsockel für QFN, SOP und QFP

机译:开尔文测试插座,用于QFN,SOP和QFP

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摘要

Mit den Kelvin-Testsockeln von Yamai-chi Electronics für den Einsatz im Labor und Testfloor lassen sich Halbleiterbau- steine im SOP, QFP und QFN-Gehäuse zuverlässig testen. Damit Halbleiterhersteller Funktionalität gewährleisten können, muss auch das Testequipment entsprechend leistungsstark sein. Die Testsockel mit Kelvin-Pins können diese IC-Bausteine zuverlässig testen. Test Con-tactor der Serie YED274 mit Kelvin-Fine-Pitch- Pins gibt es als Testsockel mit festem Deckel zur manuellen Bausteinprüfung, aber auch in verschiedenen, an den Baustein-Handler angepassten Ausführungen für den Volumentest.
机译:使用Yamai-chi Electronics的Kelvin测试基座用于实验室和测试平台,可以可靠地测试SOP,QFP和QFN封装中的半导体组件。为了使半导体制造商能够保证功能性,测试设备还必须具有相应的功能。带开尔文引脚的测试插座可以可靠地测试这些IC组件。具有开尔文细节距销的YED274系列测试接触器可作为带有固定盖的测试基座,用于手动组件测试,也可以提供适合组件处理程序的用于体积测试的不同版本。

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    《Elektronik Industrie》 |2016年第11appa期|86-86|共1页
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