Für QFN-, SOP- und QFP-Gehäuse

摘要

Testsockel mit Kelvin-Pins sorgen dafür, dass ICs zuverlässig getestet werden können. Mit der Test Contactor der Serie YED274-Kelvin stellt Yamaichi Electronics ein breites Spektrum zur Verfügung. Die Testsockel mit Kelvin Fine-Pitch-Pins gibt es als Testsockel mit festem Deckel zur manuellen Bausteinprüfung, aber auch in verschiedenen, an den Baustein-Handler angepass-ten Ausführungen für den Volumen-Test.