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複数世代メモリに対して低コスト試験を実現高速メモリテスタ「V93000 HSMシリーズ」

机译:高速存储器测试仪“ V93000 HSM series”,可实现多代存储器的低成本测试

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摘要

米Ve「igy社は,DDR3以降のメモリテスト用に「V93000HSMプラットフォーム」の機能・性能を強化した高速メモリテスタ「V93000HSM3G」を発表した。
机译:美国Ve ig公司宣布了一种高速存储器测试仪“ V93000HSM3G”,该测试仪增强了“ V93000HSM平台”的功能和性能,用于DDR3之后的存储器测试。

著录项

  • 来源
    《電子材料》 |2010年第9期|p.8|共1页
  • 作者

    村田晋一郎;

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类
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